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日立ハイテクサイエンス

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蛍光X線分析の分析事例をご紹介しています。是非ご覧下さい。

装置別

蛍光X線分析
SEA No.39 炭素系材料中の微小金属異物の検査・分析
SEA No.37 SEA1200VXを用いた薄膜FP法による
無電解ニッケルめっき皮膜中の微量鉛の測定
SEA No.36 蛍光X線分析装置を用いた薄膜FP法による
鉛フリーはんだめっき皮膜中の微量鉛の測定
SEA No.35 蛍光X線分析法によるハロゲンの測定
SEA No.34 蛍光X線分析法による玩具の測定
SEA No.33 蛍光X線分析での金属の検量線法における補正
SEA No.32 金属製アクセサリー中に含有する鉛の分析
SEA No.31 SEA1000Aによる真鍮中の規制物質の測定
SEA No.30 SEA1200VXによる鉛フリーはんだ中の微量鉛の測定
SEA No.29 Snめっき中の微量鉛の測定
SEA No.28 SEA1000Aによる鉛フリーはんだ中の微量鉛の測定
SEA No.27 プラスチック中のカドミウム分析補正法
SEA No.26 SEA5120によるプラスチック中のカドミウム分析
SEA No.25 SEA2100によるプラスチック中のカドミウム分析
SEA No.24 フィールドXによるスペクトルマッチング機能の紹介(SUS編)
SEA No.23 蛍光X線分析における擬似吐しゃ物中のPbの測定
SEA No.22 陶磁器表面の異物測定
SEA No.21 卓上型微小部蛍光X線分析装置によるマッピング例
SEA No.20 卓上型蛍光X線分析装置によるヒジキ中のひ素の測定
SEA No.19 X線上面照射方式(SEA5120)と
X線下面照射方式(SEA2120)のAs検出下限
SEA No.18 金属アレルギーの歯科臨床検査への対応
SEA No.14 SEAで定性を行う場合のテクニック
SEA No.13 スペクトルマッチングの紹介
SEA No.12 燃料油中の金属分迅測定量法の検討
SEA No.11 卓上型蛍光X線分析計の最新技術
SEA No.7 エネルギー分散型蛍光X線分析
(マイクロエレメントモニタ)におけるデータ処理
SEA No.6 絵皿の元素マッピング
SEA No.5 亜鉛鉱石分析例
SEA No.4 未知試料分析例
SEA No.3 素材合金分析例
SEA No.1 鋼種判定分析例
膜厚測定
SFT No.29 SFT9500における極薄膜Auめっきの測定事例の紹介
SFT No.28 SFT9500、SEA1200VXによる無電解Niめっき中のPbの測定
SFT No.27 SFT9500による実装基板中の鉛の観察
SFT No.26 薄膜FP法の新機能を使用したSn-Biめっき測定
SFT No.25 有害物質測定用一次フィルタの膜厚測定への応用 Ⅰ
-極薄Au/Pd/Ni/りん青銅の3層めっき測定-
SFT No.24 SFT9200によるSn-Agめっき測定Ⅱ
SFT No.23 極薄Pd膜測定における定量限界および不確かさの検討
SFT No.21 Sn-Biめっき測定の精度
SFT No.20 SFT3000SシリーズによるSn-Cuめっき測定Ⅱ
SFT No.19 SFT3000SシリーズによるSn-Cuめっき測定
SFT No.18 SFT3000SシリーズによるSn-Biめっき測定
SFT No.17 SFT3000シリーズによるSn-Biめっき測定
SFT No.16 プリント基板上のAu測定におけるBr補正方法
SFT No.15 スーパーマイクロフォーカスX線管球の特性
SFT No.14 Sn-Agめっき測定上の留意点
SFT No.13 Au/Pd/Ni/Cu測定
SFT No.12 FP方を用いた合金成分比測定
SFT No.11 薄膜FP法の紹介
SFT No.10 極厚Auメッキ測定 Ⅱ
SFT No.7 スーパーマイクロフォーカス管球の特性 -下地Niメッキ測定-
SFT No.6 90Sn-10PB ハンダ測定上の留意点
SFT No.5 極薄Auメッキ測定
SFT No.4 極厚Auメッキ測定
SFT No.3 ハンダパンプの測定
SFT No.2 鉛フリーメッキ測定例 -Sn/Bi/Ag/Cu系-
SFT No.1 Au/Pd/Ni/Cuリードフレーム測定