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Hitachi

日立ハイテクサイエンス

熱分析・粘弾性装置

熱分析・粘弾性装置
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
示差走査熱量計DSC61002012年11月2019年11月
示差走査熱量計DSC62002012年11月2019年11月
示差走査熱量計DSC62202012年11月2019年11月
示差走査熱量計DSC63002012年11月2019年11月
示差熱熱重量同時測定装置TG/DTA62002012年11月2019年11月
示差熱熱重量同時測定装置TG/DTA63002012年11月2019年11月
熱機械的分析装置TMA/SS61002012年11月2019年11月
熱機械的分析装置TMA/SS62002012年11月2019年11月
熱機械的分析装置TMA/SS63002012年11月2019年11月
粘弾性測定装置DMS61002013年2月2020年2月

液体クロマトグラフ

液体クロマトグラフ
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
ポンプL-71102003年12月2013年12月
オートサンプラL-72002003年12月2013年12月
オートサンプラL-72502003年12月2013年12月
カラムオーブンL-73002003年12月2013年12月
UV検出器L-74052003年12月2013年12月
UV-VIS検出器L-74202003年12月2013年12月
ダイオードアレイ検出器L-74552003年12月2013年12月
蛍光検出器L-74852003年12月2013年12月
RI検出器L-74902003年12月2013年12月
デガッサL-76102003年12月2013年12月
ポンプL-71002003年12月2013年12月
蛍光検出器L-24802006年2月2016年2月
ダイオードアレイ検出器L-24502006年2月2016年2月
電導度検出器L-74702006年6月2016年6月
イナートポンプL-71202010年1月2020年1月
オートサンプラ(冷却付)P/N891-0210L-2200U2010年2月2020年2月
分取ポンプL-71502010年4月2020年4月
クロマトデータ処理装置D-25002011年9月2021年9月
GPC用データ処理装置D-25202011年9月2021年9月
ポンプL-21302012年3月2022年3月
ポンプL-21002012年3月2022年3月
オートサンプラL-22002012年3月2022年3月
オートサンプラ(冷却付)L-22002012年3月2022年3月
UV検出器L-24002012年3月2022年3月
UV-VIS検出器L-24202012年3月2022年3月
蛍光検出器L-24852012年3月2022年3月
RI検出器L-24902012年3月2022年3月
電導度検出器L-24702012年3月2022年3月
ダイオードアレイ検出器L-24552012年3月2022年3月
UV-VIS検出器L-2420U2012年9月2022年9月
反応ユニットL-50502013年1月2023年1月
リーゼント装置 2013年1月2023年1月
NanoFrontier nLC(オートサンプラシステム)2013年5月2023年5月
NanoFrontier nLC(マニュアルシステム)2013年5月2023年5月
超高速LC用送液システム2013年8月2023年8月
超高速LC用送液システム(低容量)2013年8月2023年8月
ポンプL-2160U2013年8月2023年8月
オートサンプラL-2200U2013年8月2023年8月
オートサンプラ(冷却付)P/N 891-0270L-2200U2013年8月2023年8月
カラムオーブンL-23002013年8月2023年8月
カラムオーブンL-23502013年8月2023年8月
UV検出器L-2400U2013年8月2023年8月
蛍光検出器L-2485U2013年8月2023年8月
ダイオードアレイ検出器L-2455U2013年8月2023年8月
オーガナイザ2013年8月2023年8月
HPLCシステムマネージャ D-7000 2017年1月 2027年1月

分光蛍光光度計(FL)

製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
分光蛍光光度計F-45002005年12月2015年12月
分光蛍光光度計F-25002009年6月2019年6月

分光光度計(UV-Vis/NIR)

分光光度計(UV-Vis/NIR)
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
レシオビーム分光光度計U-15002002年10月2012年10月
ダブルビーム分光光度計U-20012002年10月2012年10月
ダブルビーム分光光度計U-20102002年10月2012年10月
顕微分光光度計U-65002003年5月2013年5月
ダブルビーム分光光度計U-28002005年9月2014年6月
ダブルビーム分光光度計U-2800A2006年11月2014年6月
レシオビーム分光光度計U-18002007年6月2014年6月
ダブルビーム分光光度計U-28102007年6月2014年6月
分光光度計U-30102008年1月2018年1月
分光光度計U-33102008年1月2018年1月
真空紫外分光光度計U-70002009年12月2019年12月
ダイオードアレー型バイオ光度計U-0080D2010年2月2020年2月
レシオビーム分光光度計U-19002010年2月2020年2月
分光光度計U-41002014年10月2024年10月

原子吸光光度計

原子吸光光度計
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-50102005年3月2015年3月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-53102005年3月2015年3月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-57102005年3月2015年3月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-20002007年9月2017年9月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-23002007年9月2017年9月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-27002007年9月2017年9月
原子吸光光度計A-10002008年2月2015年2月
原子吸光光度計A-20002008年2月2015年2月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-20102013年2月2023年2月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-23102013年2月2023年2月
偏光ゼーマン原子吸光光度計Z-27102013年2月2023年2月

ICP発光分光分析装置(ICP-OES)

ICP発光分光分析装置(ICP-OES)
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
ICP発光分析装置 P-4010 2003年6月 2013年6月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS7000A 2000年8月 2007年8月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS4000シリーズ 2003年11月 2010年11月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS1700シリーズ 2001年8月 2008年8月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS7700 2002年7月 2009年7月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3000シリーズ 2002年12月 2009年12月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3100シリーズ 2009年10月 2016年10月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3500シリーズ 2012年9月 2019年9月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) PS3500DDシリーズ 2015年2月 2022年2月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) Vista-MPX 2006年8月 2013年8月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS6100シリーズ 2006年8月 2013年8月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS5000シリーズ 2007年5月 2014年5月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS5100シリーズ 2007年5月 2014年5月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) Vista-PRO 2007年5月 2014年5月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS5500シリーズ 2011年3月 2018年3月

ICP質量分析装置(ICP-MS)

ICP質量分析装置(ICP-MS)
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
ICP質量分析装置 P-5000* 2004年10月 2014年10月
ICP質量分析装置 SPQ9000 2001年12月 2008年12月
ICP質量分析装置 SPQ9100 2003年9月 2010年9月
ICP質量分析装置 SPQ9200 2005年3月 2012年3月
ICP質量分析装置 SPQ9400 2006年3月 2013年3月
ICP質量分析装置 SPQ9500 2006年3月 2013年3月
ICP質量分析装置 SPQ9600 2007年10月 2014年10月
ICP質量分析装置 SPQ9700 2012年7月 2019年7月
ICP質量分析装置 SPQ9700II 2013年10月 2020年10月

蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
エレメントモニタ SEA2001 2001年11月 2008年11月
エレメントモニタ SEA2010 2004年7月 2011年7月
エレメントモニタ SEA2100シリーズ 2004年4月 2011年4月
エレメントモニタ SEA2200シリーズ 2004年8月 2011年8月
エレメントモニタ SEA5100シリーズ 2005年10月 2011年10月
エレメントモニタ SEA5200シリーズ 2007年9月 2014年9月
有害物質モニタ SEA1000A 2009年1月 2016年1月
フィールドエックス SEA200 2009年2月 2016年2月
エレメントモニタ SEA2100Lシリーズ 2010年9月 2017年9月
エレメントモニタ SEA5100Aシリーズ 2011年5月 2018年5月
土壌モニタ SEA1100 2011年12月 2018年12月
有害物質モニタ SEA1000A II 20014年1月 2021年1月

蛍光X線膜厚計

蛍光X線膜厚計
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
蛍光X線膜厚計 SFT7000シリーズ 2003年11月 2004年11月
蛍光X線膜厚計 SFT3000シリーズ 2001年3月 2008年3月
蛍光X線膜厚計 SFT3000Sシリーズ 2005年6月 2012年12月
蛍光X線膜厚計 SFT9100シリーズ 2008年6月 2016年12月
蛍光X線膜厚計 SFT9200 2013年4月 2020年4月
蛍光X線膜厚計 FT110 2015年3月 2022年3月
蛍光X線膜厚計 FT9500シリーズ 2015年9月 2022年9月
蛍光X線膜厚計 FT9500Xシリーズ 2017年3月 2024年3月

走査型プローブ顕微鏡(SPM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM)
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
プローブステーションNanoNavi IIe2010年3月2017年3月
プローブステーションNanoNavi2011年1月2018年1月
プローブ顕微鏡測定ユニットSPA-4002012年2月2019年2月
プローブステーションNanoNavi IIs2012年10月2019年10月
プローブ顕微鏡測定ユニットL-trace II2013年3月2020年3月
プローブステーションNanoNavi II2013年12月2020年12月

ガスクロマトグラフ

ガスクロマトグラフ
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
ガスクロマトグラフG-35002005年3月2012年3月
ガスクロマトグラフG-39002005年3月2012年3月
ガスクロマトグラフG-70002005年3月2012年3月
ガスクロマトグラフG-60002008年3月2015年3月
標準油作製装置SO-49002008年3月2015年8月
油中ガス分析装置TG-49002011年2月2018年2月

質量分析装置

質量分析装置
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
質量分析装置M-2500*1995年9月2005年9月
質量分析装置M-7200/M-7200A*2000年3月2010年3月
質量分析装置M-1200*2000年9月2010年9月
質量分析装置M-4100*2000年10月2010年10月
質量分析装置M-9000*2004年10月2014年10月
質量分析装置M-8000*2004年10月2014年10月
Nano FrontierL/LD/eLD*2012年5月2022年5月
二次元HPLC(NanoFrontier L用)*2012年5月2022年5月

マイクロ波プラズマ導入質量分析装置(MIP-MS)

マイクロ波プラズマ導入質量分析装置(MIP-MS)
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
マイクロ波プラズマ導入質量分析装置P-6000*2003年6月2013年6月

核磁気共鳴装置(NMR)

核磁気共鳴装置(NMR)
製品名型式生産終了年月消耗品・保守部品
保有期限
核磁気共鳴装置(NMR)R-1500*2000年10月2010年10月
  • *は、日立製作所として製造・販売した装置です。