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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

日立ハイテクノロジーズ本社会議室にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2016年10月20日(木)

開催時間

13:00~17:15(受付開始 12:30~)

会場案内

東京都港区西新橋1-24-14
株式会社日立ハイテクノロジーズ 本社 2F会議室

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部  担当:杉山/宮崎
TEL:03-3504-5680

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50

SEMの原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
13:50~14:10

新型走査電子顕微鏡 FlexSEM 1000のご紹介

株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:10~14:40

卓上型顕微鏡の最新アプリケーションのご紹介
~TM3030Plus 観察と解析のライブデモ~

14:40~14:55 休憩
<卓上顕微鏡 TM3030Plus 実機見学>
14:55~15:25

EDXの原理と分析の基礎

株式会社堀場製作所
15:25~16:05

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

株式会社日立ハイテクノロジーズ
16:05~16:40

機械的試料作製とイオンミリング装置への前処理アプローチ

株式会社サブテック
16:40~17:10

走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡 アプリケーションのご紹介

株式会社日立ハイテクサイエンス
17:10~17:15 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。