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株式会社 日立ハイテクノロジーズ

表面観察解析セミナー 2016 in 長野

~電子顕微鏡、解析装置の基礎と活用法~

長野県民文化会館(ホクト文化ホール)にて、電子顕微鏡、分析・解析技術に関するテーマで基礎を中心にセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2016年11月16日(水)

開催時間

10:30~17:00(受付開始 10:00~)

会場案内

〒380-0928
長野県長野市若里一丁目1番3号
長野県民文化会館(ホクト文化ホール) 小ホール

共催

高山理化精機株式会社

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:杉山
TEL:03-3504-5680

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
10:00~ 受付開始
10:30~10:40 開会の挨拶
10:40~11:30

課題解決のための分析手法の選び方 ~MST分析ラインナップのご紹介~

11:30~12:00

TOF-SIMSの基礎及びIONTOF社製 TOF.SIMS5のご紹介

12:00~13:00 昼食(お弁当を主催者側にて準備をいたします)
13:00~13:50

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

13:50~14:15

卓上顕微鏡Miniscope TM3030Plus
最新アプリケーションのご紹介(観察と解析の実演)

14:15~14:40

新型走査電子顕微鏡FlexSEM1000のご紹介

14:40~14:55 休憩
14:55~15:35

走査電子顕微鏡を用いた分析手法の紹介 ~EDXの基礎と、その発展~

15:35~16:15

SEMの原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

16:15~16:45

FIB(集束イオンビーム加工観察装置)のご紹介
~観察装置としてのFIB・加工装置としてのFIB~

16:45~17:00 質疑応答・閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。