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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

走査型電子顕微鏡(SEM)とエネルギー分散型X線分析装置(EDX)の基礎セミナーを実施いたします。
SEMやEDXを使い始めて間もない方、適切な前処理が分からない方などを対象とした座学形式の基礎セミナーとなります。
また、卓上顕微鏡の実機も展示いたします。
特別実機展示:卓上顕微鏡 TM3030Plus, 白色干渉顕微鏡 VS1330
時折柄お忙しいこととは存じますが、是非ご参加いただけますようご案内申し上げます。

開催日

2017年1月27日(金)

開催時間

13:00~16:30(受付開始 12:30~)

会場案内

長野県岡谷市長地片間町1-3-1
長野県工業技術総合センター(精密・電子技術部門)4階 視聴覚セミナー

主催

new CEC 長野県電子工業技術研究会

協力

株式会社日立ハイテクノロジーズ
高山理化精機株式会社

参加費

無料

定員

30名
*原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:50~14:20

ここまで進化した最新型低真空SEMのご紹介

14:20~14:40 休憩
≪卓上顕微鏡Miniscope 白色干渉顕微鏡 実機デモ≫
14:40~15:25

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

15:25~15:55

白色干渉顕微鏡VSシリーズ 走査型プローブ顕微鏡SPMご紹介

15:55~16:25

EDXの原理と分析の基礎

16:25~16:30 閉会の挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。