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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

千葉商工会議所にて、走査電子顕微鏡を中心とした最新事例を紹介するセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年2月24日(金)

開催時間

13:00~17:40(受付開始 12:30~)

会場案内

〒260-0013 千葉県千葉市中央区中央2-5-1 千葉中央ツインビル2号館
千葉商工会議所 第1ホール

参加費

無料

定員

50名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:小平(おだいら)
TEL:03-3504-7378

スケジュール

スケジュール
時間 内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:20

走査型プローブ顕微鏡システムのご紹介

13:20~13:40

非接触表面・層断面形状測定システムのご紹介

13:40~14:10

ここまで進化した最新型低真空SEMのご紹介

14:10~14:30

イオンミリング装置の最新事例のご紹介

14:30~15:00

日立SU5000による最新解析事例のご紹介

15:00~15:20 休憩
14:20~15:50

電子顕微鏡を用いたBrukerの最新分析技術で分析精度を向上します
~電子線とX線を用いて試料表面から内部まで分析を可能に~

ブルカー・エイエックスエス株式会社
15:50~16:10

電子顕微鏡向け特殊ホルダーと特殊ステージのご紹介

株式会社三友製作所
16:10~16:40

日立HF5000形透過電子顕微鏡のご紹介 ~200 kV FE-TEMの開発と応用~

16:40~17:10

ASTARを用いた微小部結晶解析のご紹介

株式会社TSLソリューションズ
17:10~17:30

最新TEMカメラとSEMインデンターのご紹介

西華デジタルイメージ株式会社
17:30~17:40 質疑応答・閉会の挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。