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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

日立ハイテクノロジーズ本社会議室にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年10月13日(金)

開催時間

13:00~17:00(受付開始 12:30~)

会場案内

〒108-8717 東京都港区西新橋1-24-14
日立ハイテクノロジーズ 本社 201会議室

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部 担当:杉山/宮崎
TEL:03-3504-5680

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~ 開催のご挨拶
13:00~13:50

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:50~14:10

EDXの原理と分析の基礎

アメテック株式会社
14:10~14:50

卓上型顕微鏡の最新アプリケーションのご紹介
~TM4000Plus 観察と解析のライブデモ~

14:50~15:10 休憩
【卓上顕微鏡 Miniscope® 実機見学】
15:10~16:00

走査電子顕微鏡(SEM)試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

16:00~16:20

イオンミリング装置 ArBlade®5000のご紹介

16:20~16:50

走査型白色干渉顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡のご紹介
~電子顕微鏡分析を補うもの~

16:50~17:00 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。