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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

TKP博多駅前シティセンターにて、走査電子顕微鏡を主とした表面解析の新技術およびアプリケーションを紹介するセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年10月20日(金)

開催時間

13:00~17:30(受付開始 12:30~)

会場案内

福岡市博多区博多駅前3-2-1
TKP博多駅前シティセンター ホールC

参加費

無料

定員

70名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム課
担当:福田/竹尾
TEL:050-3139-4150

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:40

コンパクト多機能SEMとイオン液体による電顕用前処理のご紹介

13:40~14:40

FE-SEMのアプリケーションとSEM試料前処理装置のご紹介

14:40~15:25

OXFORD EDS/EBSDの最新技術
粒子解析による部品清浄度検査とCMOS-EBSD検出器Symmetryのご紹介

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
15:25~15:45 休憩
15:45~16:30

日立FIB-SEMトリプルビーム装置を使ったTEM試料作成の最前線

16:30~17:30

AFMに軸足を置いた各種装置による相関分析と白色干渉顕微鏡新機能による表面計測事例紹介

17:30~ 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。