このウェブサイトでは、JavaScriptの機能を有効に設定していただくことで、最適なコンテンツをご覧いただけます。
ページの本文へ
地域・言語選択
お問い合わせ
検索
検索
日立ハイテク
製品サービス・ソリューション
技術情報
サポート情報
ニュース・イベント
企業情報
採用情報
メインメニュー
製品サービス・ソリューション
製品サービス・ソリューション
半導体製造装置
半導体製造装置
半導体製造装置
計測装置・検査装置
計測装置・検査装置
レビューSEM
検査ソリューション
計測データソリューション
計測ソリューション
エッチング装置
エッチング装置
コンダクターエッチング装置
プロダクションサポートプログラム
その他サービス
その他サービス
成分分析
製品サービス・ソリューション
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
臨床検査用装置（生化学自動分析装置、検査システム他）
臨床検査用装置（生化学自動分析装置、検査システム他）
生化学自動分析装置
臨床検査用分光光度計
遺伝子関連検査システム
検体検査自動化システム
ソリューションサービス
液体クロマトグラフ（HPLC）
液体クロマトグラフ（HPLC）
LM1010 高速液体クロマトグラフ
ライフサイエンス製品
ライフサイエンス製品
キャピラリー電気泳動シーケンサー
データ解析ソフトウェア
全自動核酸抽出装置
製品サービス・ソリューション
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
走査電子顕微鏡（SEM）
Miniscope®（卓上顕微鏡）
透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
ナノ・プローバ®
AMICSソフトウェア（MLA）
エコサービス
ソリューションサービス
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000 シリーズ
リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEM複合装置 NX9000
FIB-SEM複合装置トリプルビーム®装置 NX2000
高性能集束イオンビーム装置 MI4050
マイクロサンプリング® システム
CADナビゲーションシステム NASFA （Navigation System of Failure Analysis）
フォトマスクリペア装置 MRシリーズ
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
測定部（ユニット）
ステーション（コントローラー）
オプション
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
ナノ3D光干渉計測システムVS1800
電子顕微鏡周辺装置
電子顕微鏡周辺装置
TEM/SEM試料前処理装置
部品・消耗品
その他の電子顕微鏡周辺装置
ソリューションサービス
ダウンロード/資料請求
製品サービス・ソリューション
分析装置
分析装置
分析装置
熱分析・粘弾性装置
熱分析・粘弾性装置
示差走査熱量計 DSC7000シリーズ
オプション
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
アミノ酸分析システム
高速液体クロマトグラフ（HPLC）
HPLCメソッド開発ソフト
HPLC用システムマネージャー
超高速液体クロマトグラフ（UHPLC）
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
回折格子
分光蛍光光度計（FL）
マイクロプレート光度計
解析ソフトウェア
分光光度計（UV-Vis/NIR）
原子吸光光度計（AA）
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP質量分析装置（ICP-MS）
ICP発光分光分析装置(ICP-OES)
オプション
蛍光X線分析装置（XRF)
蛍光X線分析装置（XRF)
装置データ収集システム
エネルギー分散型蛍光X線分析装置
波長分散型蛍光X線分析装置
膜厚測定装置
X線回折装置（XRD）
X線回折装置（XRD）
ソフトウェア
X線検出器
質量分析装置（LC-MS、GC-MS）
質量分析装置（LC-MS、GC-MS）
ガスクロマトグラフ質量分析計（GC-MS/GC）
グロー放電質量分析装置（GD-MS）
安定同位体比質量分析装置（IRMS）
液体クロマトグラフ質量分析装置（LC-MS）
飛行時間型質量分析計（MALDI-TOFMS）
希ガス質量分析装置（Noble Gas MS）
加熱脱離質量分析計（TD-MS）
表面電離型質量分析装置（TIMS）
核磁気共鳴装置（NMR）
核磁気共鳴装置（NMR）
BRUKER NMRソフトウェア
電子スピン共鳴装置（ESR）
電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定）
電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定）
水分測定装置
滴定装置
プロセスタイトレータ
全有機炭素測定装置
環境用分析・計測機器・装置
環境用分析・計測機器・装置
水銀測定装置
水質分析システム
ガスバリア試験装置
オンサイト(ハンドヘルド/モバイル)元素分析装置
オンサイト(ハンドヘルド/モバイル)元素分析装置
ExTOPEConnect | 日立ハイテクアナリティカルサイエンス
ハンドヘルドLIBS分析装置
ハンドヘルドXRF分析装置
固体発光分光分析装置（OES）
固体発光分光分析装置（OES）
卓上型固体発光分光分析装置
可搬型固体発光分光分析装置
微生物迅速検査装置
計測・試験・分析 受託評価サービス
計測・試験・分析 受託評価サービス
環境規制物質
総合カタログ
製品サービス・ソリューション
製造関連装置・ソリューション
製造関連装置・ソリューション
製造関連装置・ソリューション
自動組立システム
電池ライフサイクルマネジメントソリューション
切削精度向上サービス（トップページ）
EV、HEV開発設備
EVライフサイクルマネジメントソリューション
EVライフサイクルマネジメントソリューション
EVライフサイクルマネジメント
次世代産業用ロボット
検査・診断評価装置
イオンビームミリング装置
リチウムイオン電池向けソリューション
MEMSデバイス装置
金型管理サービス
パワーデバイス検査装置
プリント基板製造装置
薄膜装置
ウェットステーション
製品サービス・ソリューション
計測・試験・分析 受託評価サービス
製品サービス・ソリューション
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI・データ分析/活用
AI・データ分析/活用
TIBCO Spotfire
セキュリティ・BCP
セキュリティ・BCP
SD-LAN
クラウド・ネットワーク
クラウド・ネットワーク
【ayamo】お客さまのIT業務を彩るクラウドサービス
設計・製造
産業用パソコン・周辺装置
医療
医療
【awina】リハビリテーションAI
その他デバイス
研究開発
研究開発
Chemicals Informatics
材料開発ソリューション（マテリアルズ・インフォマティクス）
RFIDシステム
製品サービス・ソリューション
OTソリューション（計測・制御・分析）
OTソリューション（計測・制御・分析）
OTソリューション（計測・制御・分析）
監視・制御システム
監視・制御システム
AI制御システム
総合計装システムEX シリーズ
遠隔自動データ収集装置（テレメータ）
ダウンロード
フィールド機器・分析計
フィールド機器・分析計
差圧・圧力伝送器シリーズ
流量計シリーズ
レベル計
プロセス分析装置
プロセス屈折率計
水質計
IoT・データ利活用
IoT・データ利活用
予兆・診断システム「BD-CUBE」 : 日立ハイテクソリューションズ
製造実行系システム
製造実行系システム
統合MESソリューションCyberPlant
パネル計器
品質管理ソリューション
制御セキュリティー
製品サービス・ソリューション
素材・部材
素材・部材
素材・部材
エレクトロニクス関連部材
エレクトロニクス関連部材
電子源
光通信用部材
工業関連部材
工業関連部材
電磁波吸収素材
機能化学品その他
機能化学品その他
ハンツマン製品
工業用薬品
冷凍サイクル製品
サプライヤーの品質マネジメントソリューション
自動車・輸送機器関連部材
自動車・輸送機器関連部材
車載向け多用途高速データ伝送IC：APIX
アルミホットスタンプ
製品サービス・ソリューション
バリューチェーンソリューション
製品サービス・ソリューション
環境関連ソリューション
環境関連ソリューション
環境関連ソリューション
chemnext
chemnext
chemNEXTご利用者専用ページ
製品サービス・ソリューション
検査システム
検査システム
検査システム
ラボソリューション
鉄道関連製品
メインメニュー
技術情報
技術情報
分析装置
分析装置
分析装置
原子吸光分析装置（AA） テクニカルサポート
原子吸光分析装置（AA） テクニカルサポート
原子吸光光度計基礎講座
環境規制に関する分析製品・サービス
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
ChromasterUltra Rs -測定例-
液体クロマトグラフ（HPLC）基礎講座
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP発光分光分析/質量分析装置（ICP-OES/ICP-MS) 技術資料リスト
固体発光分光分析装置(OES) テクニカルサポート
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
分光蛍光光度計（FL）
マイクロプレート光度計
分光光度計（UV-Vis/NIR）
熱分析・粘弾性装置
熱分析・粘弾性装置
熱分析・粘弾性（DSC、TG/DTA、TMA、DMA） 原理解説
熱分析・粘弾性システム NEXTAシリーズ
蛍光X線分析装置（XRF)
蛍光X線分析装置（XRF)
蛍光X線分析装置 参考文献・発表リスト
技術情報
アプリケーションデータ
アプリケーションデータ
アプリケーションデータ
分析装置
分析装置
分光蛍光光度計（FL） アプリケーション
固体発光分光分析装置（OES）アプリケーション
分光光度計（UV-Vis/NIR） アプリケーション
分野別
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
RFIDシステム
技術情報
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI×ICTライブラリー
AI×ICTライブラリー
ayamo｜ライブラリー
Chemicals Informatics
i-MATRIX｜ライブラリー
ThingWorx｜ライブラリー
Vuforia｜ライブラリー
技術情報
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
自動分析装置 お客様の声（製品導入事例）
技術情報
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
構造細胞生物学のための電子顕微鏡技術
ミクロアイ
Miniscope®（卓上顕微鏡）
ナノアート
田中SEM研究所通信
透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
FIBデータギャラリー
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）：原理解説
AFMデータギャラリー
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM) スペシャルコンテンツ
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
走査型白色干渉顕微鏡 原理解説
走査型白色干渉顕微鏡データギャラリー
フィルム業界 最新測定技術のご紹介
技術情報
OTソリューション（計測・制御・分析）
技術情報
半導体製造装置
半導体製造装置
半導体製造装置
半導体の部屋
半導体の部屋
半導体とは
半導体の製造
メインメニュー
企業情報
ごあいさつ
会社概要
沿革
役員一覧
会社組織
企業経営の考え方
事業紹介
拠点一覧
財務情報
電子公告
サステナビリティへの取り組み
社会課題解決のストーリー
理科教育支援活動
Hitachi High-Tech Movie Channel
公式ソーシャルメディア一覧
会社紹介関連資料
受賞歴
資材調達
広告
国内グループ会社
(株)日立ハイテクソリューションズ
(株)日立ハイテクネクサス
(株)日立ハイテクサポート
(株)日立ハイテクフィールディング
(株)日立ハイテクマニファクチャ＆サービス
(株)日立ハイテクサイエンス
(株)日立ハイテク九州
海外グループ会社
製品サービス・ソリューション
メインメニュー
製品サービス・ソリューション
製品サービス・ソリューション
半導体製造装置
半導体製造装置
半導体製造装置
計測装置・検査装置
計測装置・検査装置
レビューSEM
検査ソリューション
計測データソリューション
計測ソリューション
エッチング装置
エッチング装置
コンダクターエッチング装置
プロダクションサポートプログラム
その他サービス
その他サービス
成分分析
製品サービス・ソリューション
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
臨床検査用装置（生化学自動分析装置、検査システム他）
臨床検査用装置（生化学自動分析装置、検査システム他）
生化学自動分析装置
臨床検査用分光光度計
遺伝子関連検査システム
検体検査自動化システム
ソリューションサービス
液体クロマトグラフ（HPLC）
液体クロマトグラフ（HPLC）
LM1010 高速液体クロマトグラフ
ライフサイエンス製品
ライフサイエンス製品
キャピラリー電気泳動シーケンサー
データ解析ソフトウェア
全自動核酸抽出装置
製品サービス・ソリューション
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
走査電子顕微鏡（SEM）
Miniscope®（卓上顕微鏡）
透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
ナノ・プローバ®
AMICSソフトウェア（MLA）
エコサービス
ソリューションサービス
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000 シリーズ
リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEM複合装置 NX9000
FIB-SEM複合装置トリプルビーム®装置 NX2000
高性能集束イオンビーム装置 MI4050
マイクロサンプリング® システム
CADナビゲーションシステム NASFA （Navigation System of Failure Analysis）
フォトマスクリペア装置 MRシリーズ
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
測定部（ユニット）
ステーション（コントローラー）
オプション
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
ナノ3D光干渉計測システムVS1800
電子顕微鏡周辺装置
電子顕微鏡周辺装置
TEM/SEM試料前処理装置
部品・消耗品
その他の電子顕微鏡周辺装置
ソリューションサービス
ダウンロード/資料請求
製品サービス・ソリューション
分析装置
分析装置
分析装置
熱分析・粘弾性装置
熱分析・粘弾性装置
示差走査熱量計 DSC7000シリーズ
オプション
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
アミノ酸分析システム
高速液体クロマトグラフ（HPLC）
HPLCメソッド開発ソフト
HPLC用システムマネージャー
超高速液体クロマトグラフ（UHPLC）
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
回折格子
分光蛍光光度計（FL）
マイクロプレート光度計
解析ソフトウェア
分光光度計（UV-Vis/NIR）
原子吸光光度計（AA）
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP質量分析装置（ICP-MS）
ICP発光分光分析装置(ICP-OES)
オプション
蛍光X線分析装置（XRF)
蛍光X線分析装置（XRF)
装置データ収集システム
エネルギー分散型蛍光X線分析装置
波長分散型蛍光X線分析装置
膜厚測定装置
X線回折装置（XRD）
X線回折装置（XRD）
ソフトウェア
X線検出器
質量分析装置（LC-MS、GC-MS）
質量分析装置（LC-MS、GC-MS）
ガスクロマトグラフ質量分析計（GC-MS/GC）
グロー放電質量分析装置（GD-MS）
安定同位体比質量分析装置（IRMS）
液体クロマトグラフ質量分析装置（LC-MS）
飛行時間型質量分析計（MALDI-TOFMS）
希ガス質量分析装置（Noble Gas MS）
加熱脱離質量分析計（TD-MS）
表面電離型質量分析装置（TIMS）
核磁気共鳴装置（NMR）
核磁気共鳴装置（NMR）
BRUKER NMRソフトウェア
電子スピン共鳴装置（ESR）
電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定）
電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定）
水分測定装置
滴定装置
プロセスタイトレータ
全有機炭素測定装置
環境用分析・計測機器・装置
環境用分析・計測機器・装置
水銀測定装置
水質分析システム
ガスバリア試験装置
オンサイト(ハンドヘルド/モバイル)元素分析装置
オンサイト(ハンドヘルド/モバイル)元素分析装置
ExTOPEConnect | 日立ハイテクアナリティカルサイエンス
ハンドヘルドLIBS分析装置
ハンドヘルドXRF分析装置
固体発光分光分析装置（OES）
固体発光分光分析装置（OES）
卓上型固体発光分光分析装置
可搬型固体発光分光分析装置
微生物迅速検査装置
計測・試験・分析 受託評価サービス
計測・試験・分析 受託評価サービス
環境規制物質
総合カタログ
製品サービス・ソリューション
製造関連装置・ソリューション
製造関連装置・ソリューション
製造関連装置・ソリューション
自動組立システム
電池ライフサイクルマネジメントソリューション
切削精度向上サービス（トップページ）
EV、HEV開発設備
EVライフサイクルマネジメントソリューション
EVライフサイクルマネジメントソリューション
EVライフサイクルマネジメント
次世代産業用ロボット
検査・診断評価装置
イオンビームミリング装置
リチウムイオン電池向けソリューション
MEMSデバイス装置
金型管理サービス
パワーデバイス検査装置
プリント基板製造装置
薄膜装置
ウェットステーション
製品サービス・ソリューション
計測・試験・分析 受託評価サービス
製品サービス・ソリューション
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI・データ分析/活用
AI・データ分析/活用
TIBCO Spotfire
セキュリティ・BCP
セキュリティ・BCP
SD-LAN
クラウド・ネットワーク
クラウド・ネットワーク
【ayamo】お客さまのIT業務を彩るクラウドサービス
設計・製造
産業用パソコン・周辺装置
医療
医療
【awina】リハビリテーションAI
その他デバイス
研究開発
研究開発
Chemicals Informatics
材料開発ソリューション（マテリアルズ・インフォマティクス）
RFIDシステム
製品サービス・ソリューション
OTソリューション（計測・制御・分析）
OTソリューション（計測・制御・分析）
OTソリューション（計測・制御・分析）
監視・制御システム
監視・制御システム
AI制御システム
総合計装システムEX シリーズ
遠隔自動データ収集装置（テレメータ）
ダウンロード
フィールド機器・分析計
フィールド機器・分析計
差圧・圧力伝送器シリーズ
流量計シリーズ
レベル計
プロセス分析装置
プロセス屈折率計
水質計
IoT・データ利活用
IoT・データ利活用
予兆・診断システム「BD-CUBE」 : 日立ハイテクソリューションズ
製造実行系システム
製造実行系システム
統合MESソリューションCyberPlant
パネル計器
品質管理ソリューション
制御セキュリティー
製品サービス・ソリューション
素材・部材
素材・部材
素材・部材
エレクトロニクス関連部材
エレクトロニクス関連部材
電子源
光通信用部材
工業関連部材
工業関連部材
電磁波吸収素材
機能化学品その他
機能化学品その他
ハンツマン製品
工業用薬品
冷凍サイクル製品
サプライヤーの品質マネジメントソリューション
自動車・輸送機器関連部材
自動車・輸送機器関連部材
車載向け多用途高速データ伝送IC：APIX
アルミホットスタンプ
製品サービス・ソリューション
バリューチェーンソリューション
製品サービス・ソリューション
環境関連ソリューション
環境関連ソリューション
環境関連ソリューション
chemnext
chemnext
chemNEXTご利用者専用ページ
製品サービス・ソリューション
検査システム
検査システム
検査システム
ラボソリューション
鉄道関連製品
技術情報
メインメニュー
技術情報
技術情報
分析装置
分析装置
分析装置
原子吸光分析装置（AA） テクニカルサポート
原子吸光分析装置（AA） テクニカルサポート
原子吸光光度計基礎講座
環境規制に関する分析製品・サービス
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）
ChromasterUltra Rs -測定例-
液体クロマトグラフ（HPLC）基礎講座
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP発光分光分析装置（ICP-OES/ICP-MS）
ICP発光分光分析/質量分析装置（ICP-OES/ICP-MS) 技術資料リスト
固体発光分光分析装置(OES) テクニカルサポート
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL）
分光蛍光光度計（FL）
マイクロプレート光度計
分光光度計（UV-Vis/NIR）
熱分析・粘弾性装置
熱分析・粘弾性装置
熱分析・粘弾性（DSC、TG/DTA、TMA、DMA） 原理解説
熱分析・粘弾性システム NEXTAシリーズ
蛍光X線分析装置（XRF)
蛍光X線分析装置（XRF)
蛍光X線分析装置 参考文献・発表リスト
技術情報
アプリケーションデータ
アプリケーションデータ
アプリケーションデータ
分析装置
分析装置
分光蛍光光度計（FL） アプリケーション
固体発光分光分析装置（OES）アプリケーション
分光光度計（UV-Vis/NIR） アプリケーション
分野別
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
RFIDシステム
技術情報
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI・ICTソリューション
AI×ICTライブラリー
AI×ICTライブラリー
ayamo｜ライブラリー
Chemicals Informatics
i-MATRIX｜ライブラリー
ThingWorx｜ライブラリー
Vuforia｜ライブラリー
技術情報
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
医用機器・ライフサイエンス製品
自動分析装置 お客様の声（製品導入事例）
技術情報
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
構造細胞生物学のための電子顕微鏡技術
ミクロアイ
Miniscope®（卓上顕微鏡）
ナノアート
田中SEM研究所通信
透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
FIBデータギャラリー
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）：原理解説
AFMデータギャラリー
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM) スペシャルコンテンツ
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
走査型白色干渉顕微鏡 原理解説
走査型白色干渉顕微鏡データギャラリー
フィルム業界 最新測定技術のご紹介
技術情報
OTソリューション（計測・制御・分析）
技術情報
半導体製造装置
半導体製造装置
半導体製造装置
半導体の部屋
半導体の部屋
半導体とは
半導体の製造
サポート情報
ニュース・イベント
企業情報
メインメニュー
企業情報
ごあいさつ
会社概要
沿革
役員一覧
会社組織
企業経営の考え方
事業紹介
拠点一覧
財務情報
電子公告
サステナビリティへの取り組み
社会課題解決のストーリー
理科教育支援活動
Hitachi High-Tech Movie Channel
公式ソーシャルメディア一覧
会社紹介関連資料
受賞歴
資材調達
広告
国内グループ会社
(株)日立ハイテクソリューションズ
(株)日立ハイテクネクサス
(株)日立ハイテクサポート
(株)日立ハイテクフィールディング
(株)日立ハイテクマニファクチャ＆サービス
(株)日立ハイテクサイエンス
(株)日立ハイテク九州
海外グループ会社
採用情報
Menu
関連コンテンツ
会社紹介映像（ロング版 8分23秒）
会社紹介映像（ミドル版 2分5秒）
会社紹介映像（ショート版 1分28秒）
Home
企業情報
国内グループ会社
株式会社 日立ハイテクソリューションズ
株式会社 日立ハイテクソリューションズ 企業情報
会社紹介資料
会社紹介資料
会社案内
会社案内2022年4月（PDF形式、15 MB）
会社案内2022年4月（電子ブック）
会社紹介映像
会社紹介動画（ミドル版 2分5秒）
会社紹介動画（ショート版 1分28秒）
会社紹介動画（ロング版 8分23秒）
一つ上のページに戻る
ページ先頭へ
関連コンテンツ
会社紹介映像（ロング版 8分23秒）
会社紹介映像（ミドル版 2分5秒）
会社紹介映像（ショート版 1分28秒）
日立ハイテク
日立ハイテクトップ
製品ソリューション
製品サービス・ソリューションから探す
業種・業界から探す
社会課題から探す
技術情報
サポート情報
ニュース・イベント
企業情報
国内グループ会社
海外グループ会社
サステナビリティへの取り組み
採用情報
日立グループTOP
サイトの利用条件
個人情報保護に関して
© Hitachi High-Tech Corporation.
2001
. All rights reserved.
