2021年10月4日
次世代の高速通信技術「5G」は、スマートフォンだけでなく、IoT、自動車などあらゆる分野で利用されようとしており、基地局の設置などが行われています。５G関連機器に実装されるプリント配線板パターンの複雑化や搭載部品点数の増加による高密度実装化にともない、電気電子部品の微小化やめっき薄膜化が進んでいます。そのため、高性能、高品質を維持するために、微小部における高精度かつ迅速な膜厚管理が求められています。
7月に開催しご好評をいただいた「蛍光X線膜厚計活用セミナー」を、見逃し配信として、オンデマンドにて配信します。本セミナーでは、ポリキャピラリと高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光Ｘ線膜厚計FT160の特長に加え、コネクタやセラミックチップ部品、プリント基板、半導体デバイス等の膜厚測定事例をご紹介しています。例として、フレキシブル基板上のNi-P/Au膜厚・P濃度同時測定や、積層セラミックコンデンサ(MLCC)のNi/Sn膜厚測定などの事例紹介もございますので、これから膜厚計を検討されるお客様だけでなく、すでに膜厚計をご使用されているお客様にも、お役立ていただける内容となっております。
皆様のご参加を心よりお待ちしております。
2021年11月15日（月）10:00～2021年11月19日（金）17:00
Webセミナー（オンデマンド配信）
※期間中はお客様のご都合に合わせて視聴いただけます。一時停止や繰り返し視聴も可能です。
※動画配信サービス「BrightCove」を使ったビデオ視聴となります。お手元の環境にて、動画視聴に制約がある場合はご利用いただけない場合がありますので、予めご了承ください。
無料
| 講演 | 視聴時間 |
|---|---|
| 蛍光X線膜厚計FT160による迅速なめっき膜厚測定の実現〜5G時代における電気電子部品の品質管理への適用〜 | 37分56秒 |
| ICP発光分光分析装置のご紹介 | 16分39秒 |
オンラインお申し込みフォームよりお申し込みください。
2021年11月10日（水） 17:00
お申し込み受け付け完了後、11月12日にご登録いただいたメールアドレス宛に視聴用URLのご案内を送信します。開催期間になりましたら、視聴用URLにアクセスしてご視聴ください。
メールアドレスが間違っている場合や、ご利用の環境にてシステムから配信のメールの受信ができない場合は、ご案内を確認いただくことができません。11月12日14時を過ぎてもメールを受信しない場合は、お問合せ下さい。
