| Data No. |
タイトル |
| STEM019 |
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- 使用装置： 走査透過電子顕微鏡 HD-2700
- キーワード：STEM、暗視野、金属、転位、双晶、オーステナイトステンレス鋼、ADF-STEM像、SD-STEM像、BF-STEM像、二波励起、ウィークビーム
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| STEM017 |
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- 使用装置： 走査透過電子顕微鏡 HD-2700
- キーワード：SEM、走査透過電子顕微鏡、STEM、球面収差補正、Csコレクタ、原子カラム、BF-STEM、ADF-STEM、Au、Si、BaTiO3
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| STEM016 |
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- 使用装置： 走査透過電子顕微鏡 HD-2700
- キーワード：STEM、球面収差補正、EELS、原子カラム、BF-STEM、ADF-STEM、Si、BaTiO3
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| STEM015 |
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- 使用装置： 走査透過電子顕微鏡 HD-2700
- 集束イオン/電子ビーム加工観察装置 nanoDUE'T® NB5000
- キーワード：STEM、HAADF-STEM、球面収差補正機能、PMOS、原子カラム、SiGe、High-K
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| STEM010 |
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- 使用装置： 走査透過電子顕微鏡 HD-2700
- キーワード：走査透過電子顕微鏡、STEM、6極子型球面収差補正器（Cs-corrector）、球面収差補正器、高角環状暗視野（HAADF: High Angle Annular Dark Field）STEM像、BF-STEM像、ドーパント元素分布、触媒粒子
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STEM009
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- 使用装置： 超薄膜評価装置 HD-2300
- キーワード：STEM、高コントラスト、加速電圧120 kV、トナー、生物切片、Siデバイス
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STEM008
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- 使用装置： 集束イオンビーム加工観察装置 FB-2100
- 超薄膜評価装置 HD-2300
- キーワード：EDX、元素マップSTEM、FIB、マイクロサンプリング法、ドーパント
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STEM007
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- 使用装置： 超薄膜評価装置 HD-2300
- キーワード：STEM、高温高分解能観察、SE像、その場観察、直接加熱、ナノ粒子
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STEM006
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- 使用装置： 集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
- 超薄膜評価装置 HD-2000
- キーワード：STEM、HAADF、Zコントラスト、FIB、マイクロサンプリング、EDX、化合物半導体
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STEM005
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- 使用装置： 超薄膜評価装置 HD-2000
- キーワード：カーボンナノチューブ、多層ナノチューブ（multiwalled carbon nanotubes；MWNTs）、単層ナノチューブ（single-walled carbon nanotubes；SWNTs）、走査透過電子顕微鏡、直接加熱方式試料加熱ホルダ、明視野STEM像
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STEM004
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- 使用装置： 超薄膜評価装置 HD-2000
- Gatan Digital PEELS
- キーワード：Siデバイス、STEM、EELS、Spectrum Imaging、Cold-FE
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STEM003
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- 使用装置： 超薄膜評価装置 HD-2000
- キーワード：電子線回折像、明視野走査透過像、BF-STEM像検出器、暗視野走査透過像、DF-STEM像検出器、ナノ・プローブ電子線回折像、分解能指数、Siデバイス、セラミックス
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STEM002
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- 使用装置： 集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
- 超薄膜評価装置 HD-2000
- キーワード：GMR、FIB、フェーズコントラスト像、Zコントラスト像、高感度EDX分析、EDXマッピング、ライン分析
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STEM001
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- 使用装置： 超薄膜評価装置 HD-2000
- キーワード：触媒、二次電子、BF検出器、HAADF検出器、EDX検出器、明視野走査透過像、暗視野走査透過像、担体、格子像
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