透過電子顕微鏡（TEM/STEM）

透過電子顕微鏡（TEM）

日立ハイテクが長年蓄積した走査電子顕微鏡に関する測定手法、測定例の一部をご紹介いたします。
以下のリストのデータをはじめとした、さまざまなアプリケーションデータは、弊社会員制情報検索サイト「S.I.navi（エスアイナビ）」でご提供しています。

HF-3300 in situ SEM/STEM観察、英国王立化学会国際会議にてポスター賞を受賞

当社社員がHF-3300測定に協力した論文が、"Nature Communications"に掲載

アプリケーションデータ 走査透過電子顕微鏡（STEM）

アプリケーションデータ 透過電子顕微鏡（TEM）

アプリケーションデータ（STEM）