ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)
  5. 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
  6. アプリケーションデータ 透過電子顕微鏡(TEM)

アプリケーションデータ 透過電子顕微鏡(TEM)

日立ハイテクが長年蓄積した走査電子顕微鏡に関する測定手法、測定例の一部をご紹介いたします。
以下のリストのデータをはじめとした、さまざまなアプリケーションデータは、弊社会員制情報検索サイト「S.I.navi(エスアイナビ)」でご提供しています。

S.I.naviへの会員登録は、以下より承っております。

-

ユーザー限定

「S.I.navi」内の日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」でご提供しています。「S.I.navi」サイトで、ご使用製品に日立電子顕微鏡をご登録いただくと、「Semevolution」の閲覧が可能になります。

透過電子顕微鏡(TEM)

【TEM142】 HF-3300を用いたPt/C触媒試料のSEM/STEM同時その場観察

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300
キーワード 透過電子顕微鏡、SEM、その場観察、触媒、燃料電池

【TEM140】 HT7700用 走査透過像観察装置(STEM)の材料分野への応用(1)

使用装置 透過電子顕微鏡 HT7700
キーワード 走査透過像観察装置(STEM)、色収差、厚い試料、明視野(BF)像、暗視野(DF)像、高角散乱電子、散乱コントラスト、回折コントラスト、組成コントラスト、金属触媒含有カーボンナノチューブ、トナー粒子、SUS鋼板、分布状態、結晶方位、転位網、格子歪

【TEM139】 HT7700透過電子顕微鏡の材料分野への応用(1)

使用装置 透過電子顕微鏡 HT7700
キーワード 透過電子顕微鏡、高分解能観察モード、デジタルカメラ、カーボンナノホーン、多層カーボンナノチューブ、MWNT

【TEM137】 腎臓疾患病態解析へのTEM応用 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、病理組織、バイオプシー、針生検、腎臓、腎臓疾患、膜性腎症、ループス腎炎、基底膜、メサンギウム、つなぎ写真

【TEM136】 白金担持触媒の高分解能三次元TEM解析

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9500
キーワード TEM、3D解析ホルダー、白金担持触媒、高分解能三次元TEM観察、電子線トモグラフィー、SIR、全方位回転

【TEM135】 ナノ電子線回折法を用いた半導体デバイスの歪み計測

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300
キーワード 電界放出形透過電子顕微鏡、ナノ電子線回折法、格子歪み、MOS

【TEM133】 位置分解型EELS法を用いた積層膜の高精度分析

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300
キーワード 透過電子顕微鏡、冷陰極電界放出形電子銃、高エネルギー分解能、位置分解型EELS、積層膜、エネルギーシフト

【TEM132】 SiO2上Sn 酸化過程の高分解能観察およびEELS分析

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9500
キーワード ガス導入機構付き試料加熱ホルダ、TEM、Snナノ粒子、酸化過程、その場観察、高分解能観察、EELS分析

【TEM131】 電子線トモグラフィーのバイオ応用(1) ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、トモグラフィー、三次元構造解析、フリーズエッチングレプリカ、NRK細胞、トポグラフィーに基づく再構成法(Topography Based Reconstruction : TBR)、セグメンテーション

【TEM123】 透過電子顕微鏡によるアスベスト分析 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、エネルギー分散型X線分析装置、アスベスト、クリソタイル、クロシドライト、アンソフィライト、アモサイト、高分解能像観察、元素分析、制限視野電子線回折、結晶構造

【TEM122】 H-7650におけるTEMトモグラフィー用3D再構成システムとその応用(3)ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、白金クラスター、カーボンナノ粒子、トモグラフィー、 トポグラフィーに基づく再構成法(Topography Based Reconstruction : TBR)、セグメンテーション

【TEM121】 H-7650におけるTEMトモグラフィー用3D再構成システムとその応用(2) ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、トモグラフィー、重み付け逆投影法 (Weighted Back Projection :WBP)、トポグラフィー計測に基づく再構成法(Topography Based Reconstruction :TBR)

【TEM120】 H-7650透過電子顕微鏡の材料分野への応用(1)カーボンナノホ一ンの高解像度観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、高解像度観察モード、デジタルカメラ、カーボンナノホーン、単層カーボンナノチューブ

【TEM119】 透過電子顕微鏡H-7650の機能とその応用(2) ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、高コントラストモード、スロースキャンCCDカメラ、ヒト腎臓、無染色切片

【TEM118】 電子線トモグラフィー用3D-TEMシステムとその応用(1) ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 電子線トモグラフィー、透過電子顕微鏡、ユーセントリックサイドエントリーステージ、試料傾斜、三次元再構成、WBP;Weighted Back Projection、重み付け逆投影法、SIR; Simultaneous Iterative Reconstruction、代数的反復法、DSM;Dynamic Shell Modeling、 ダイナミックシェルモデリング法、三次元表示、ウシ小脳、急速凍結・ディープエッチレプリカ

【TEM117】 H-9500透過電子顕微鏡の機能と高分解能観察例

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9500
キーワード TEM像、デジタル画像、高分解能撮影、PC制御

【TEM116】 新型透過電子顕微鏡H-7650の機能とその応用(1) ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7650
キーワード 透過電子顕微鏡、高コントラスト(HC)モード、高分解能(HR)モード、スロースキャンCCDカメラ、デジタルカメラ、デジタルオートモンタージュ機能、ヒト腎臓、ラット小脳、ウニ型成長カーボンナノチューブ

【TEM115】 H-7600によるカーボンナノチューブの観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、スロースキャンCCDカメラ、試料傾斜、金属触媒、ウニ型カーボンナノチューブ、ハイウェイ-ジャンクション型カーボンナノチューブ

【TEM114】 H-7600の自動試料傾斜像記録機能によるレプリカ試料の立体構造観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、自動試料傾斜像記録機能、コンピュータトモグラフィー(CT)法、急速凍結レプリカ法、シナプス、シナプス小胞

【TEM113】 H-7600の自動試料傾斜像記録機能による機能タンパク質の立体構造観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、自動試料傾斜像記録機能、急速凍結ディープエッチレプリカ法、ウシ小脳、イノシトール三リン酸レセプター

【TEM112】 H-7600による生物試料のデジタルTEM像観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600

【TEM111】 H-7600を用いた高角度試料傾斜によるミオシン分子の三次元構造観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、電子線コンピュータトモグラフィー、ミオシン分子、試料傾斜

【TEM110】 H-7600の機能とその応用(3)
-医学生物分野における画像データベースの活用- ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、デジタル画像、加圧凍結法、免疫電顕法

【TEM109】 カーボンナノチューブの高温高分解能観察およびEELS分析 ユーザー限定

使用装置 電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
キーワード カーボンナノチューブ、冷陰極電界放出形透過電子顕微鏡、ダイレクトヒーティングホルダ、多層ナノチューブ(MWNTs:multi-walled carbon nanotubes)、単層ナノチューブ(SWNT:Single walled nano tube)、グラフェン、EELS(電子線エネルギー損失分光、EELS:Electron Energy Loss Spectroscopy)分析

【TEM108】 H-7600の機能とその応用(2)
-高品位デジタルTEM画像の病理分野への応用- ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、デジタル画像、オートフォーカス機能、腎臓、胚芽性腺肉腫、ウイルムス腫瘍、ループス腎炎、アミロイドーシス

【TEM107】 カーボンナノチューブの室温および高温での高分解能観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
キーワード カーボンナオチューブ、冷陰極電界放出形透過電子顕微鏡、ダイレクトヒーティングホルダー、グラファイトシート、多層ナノチューブ(multiwalled carbon nanotubes;MWNTs)

【TEM106】 H-7600における自動粒子検索システムとその応用 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、自動粒子検索システム、オートフォーカス機能、培養細胞、アデノウイルス

【TEM105】 金属材料析出過程の高温その場観察とEELS分析 ユーザー限定

使用装置 電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
キーワード 加熱ホルダー、その場観察、分析電子顕微鏡、EELS、金属、析出物

【TEM104】 FIB/TEMシステムによる金属中の微小析出物断面構造解析 ユーザー限定

使用装置 電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード 集束イオンビーム、高加速二次電子像、STEM像、組成分布像

【TEM103】 H-7600の機能とその応用(1)
-オートフォーカス機能- ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡 H-7600
キーワード 透過電子顕微鏡、オートフォーカス機能、位相限定相関法、アデノウイルス、ヒト膵臓

【TEM102】 H-7500のトータルシステム化とその応用 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード 透過電子顕微鏡、EDX装置、STEM像、元素マッピング、ヒト肺、ヒト皮膚、ラット腎臓

【TEM100】 H-7500による試料自動検索システムとその応用 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード 透過電子顕微鏡、試料自動検索システム、ウイルス、ネガティブ染色

【TEM099】 HD-2000で観る64M-DRAM(薄膜加工からナノ領域の分析まで) ユーザー限定

使用装置 超薄膜評価装置 HD-2000
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード 高加速二次電子像、Zコントラスト像、フェーズコントラスト像、Siデバイス、高感度EDX分析、測長、画像処理

【TEM098】 イメージングEELS法による状態変化の動的観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、GIF、EELS、沿製造観察、動的観察、加熱ホールダ、状態変化観察

【TEM097】 FIB/TEMシステムによる電子デバイス微小欠陥解析 ユーザー限定

使用装置 超薄膜評価装置 HD-2000
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード STEM像、高加速SEM像、疑似欠陥、ドリル穴先端部、イオンダメージ層

【TEM096】 H-7500による粉体試料のEDX分析 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード 透過電子顕微鏡、X線分析、粉体試料

【TEM095】 ヒト歯牙エナメル質のFIBによる薄膜化とその断面TEM観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード 集束イオンビーム、断面TEM試料作製、エナメル質ハイドロキシアパタイト

【TEM094】 Bio-TEM H-7500によるウィルスの観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード 透過電子顕微鏡、インフルエンザウイルス、アデノウイルス、λファージ、SRSV小型球形ウイルス、ネガティブ染色法

【TEM093】 HF-2000+GIFによるSiデバイスのONO膜観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、GIF、EELS、組成像観察、半導体デバイス、集束イオンビーム

【TEM092】 新型Bio-TEM H-7500の機能とその応用(2)
-3個取り試料ホルダーとマイクロトレース機能- ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード 透過電子顕微鏡、3個取り試料ホルダー、マイクロトレース機能、試料位置記憶機能

【TEM091】 厚い半導体試料のエネルギーフィルター像観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡EF-1000
キーワード エネルギーフィルタ像、16M-DRAM、集束イオンビーム加工、プラズモンロス電子

【TEM090】 FIB加工と高加速SEM像観察によるデバイスの断面TEM試料作製とその観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード 集束イオンビーム、高加速二次電子像、1GDRAM、断面TEM試料作製、SIM(Scanning Ion Microscope)像、コンタクトホール、ステレオ観察、メモリーセル、キャパシタ、ビットライン、COB(capacitor over bitline)、ワードライン、層間絶縁膜

【TEM089】 HF-2000+GIFによるナノ領域軽元素組成像観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、EELS、組成像観察、セラミックス

【TEM088】 FIBによる16M-DRAMのTEM試料作製とその高電圧二次電子像観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000
キーワード 高電圧二次電子像、16M-DRAM、ラインプロファイル

【TEM087】 新型Bio-TEM H-7500の機能とその応用(1) ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード 透過電子顕微鏡、スティグモニター機能、オートモンタージュ機能、つなぎ写真、極低倍観察

【TEM086】 TEM用高感度TVシステム(UTK-2000)の応用 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード ゼオライト、結晶構造解析、LOW DOSE(ロー・ドース)撮影法、faujasite、構造像、FFT(フーリエ変換)像

【TEM083】 光磁気ディスクのFIBによる薄膜化とその断面観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000
キーワード 集束イオンビーム、断面TEM試料作製、エッチングレート、複合材料、光磁気ディスク

【TEM082】 ESI法の生物試料への応用 厚切り切片のゼロロス像観察 ユーザー限定

使用装置 電子顕微鏡EF-1000
キーワード 透過電子顕微鏡、EF-1000、厚切り切片、生物試料、ゼロロス像

【TEM081】 クライオトランスファー法による植物ウィルスの極低温観察 ユーザー限定

使用装置 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過電子顕微鏡、植物ウイルス、クライオトランスファー法、氷包埋法、ロードース

【TEM080】 HF-2000によるナノエリア組成像観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、EDX、デジタルマッピング、STEM

【TEM079】 FE-TEMによるFIB加工金属薄膜の組成像観察 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、EDX、デジタルマッピング、STEM、FIB

【TEM078】 リアルタイムフーリエ変換装置を用いたポリマーアロイ構造解析 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード リアルタイムフーリエ変換、ポリマーアロイ、透過電子顕微鏡

【TEM077】 ESI法の生物試料への応用 厚切り切片のゼロロス像観察 ユーザー限定

使用装置 γフィルターTEM
キーワード 透過電子顕微鏡、γフィルターTEM、厚切り切片、生物試料、ゼロロス像

【TEM076】 H-7100透過電子顕微鏡によるつなぎ写真の作製 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過電子顕微鏡、児童連続視野撮影装置、つなぎ写真、IMPRINT MOSAICソフトウェア

【TEM075】 TEMによるSi-W-Oウィスカーの合成 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード 透過電子顕微鏡、ウィスカー、熱処理、試料予備排気室、アモルファス化、原子像

【TEM074】 透過電子顕微鏡の楽しみ-日本電子顕微鏡学会 写真コンクールより- ユーザー限定

【TEM073】 スロースキャンCCD-TVシステムによる有機材料の結晶構造確認 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード スロースキャンCCD、オンラインシステム、画像処理、シミュレーション

【TEM072】 HF-2000による組成像観察とその応用 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、STEM、HAADF、EDXマッピング、ライン分析、アニュラー検出器

【TEM071】 H-7100透過電子顕微鏡による高分子材料のSTEM観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過電子顕微鏡、走査透過像観察装置、高分子材料、無染色凍結切片、走査透過像(STEM像)

【TEM070】 H-7100透過電子顕微鏡によるつなぎ写真の撮影 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過電子顕微鏡、自動連続視野撮影装置、つなぎ写真、オートビームクッキング機能、自動サーチ機能、試料位置メモリー機能

【TEM069】 スロースキャンCCD-TVシステムによるバクテリアの観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード スロースキャンCCD、オンラインシステム、画像処理

【TEM068】 H-9000NARによる高温高分解能観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード 動的観察、結晶格子像、電子線回折像、EDX分析、融点、高分解能観察、グラファイト

【TEM067】 HF-2000によるローレンツ顕微鏡法とその応用 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 磁区観察、ローレンツ顕微鏡、冷陰極電界放出型電子銃、コバルト、分析電子顕微鏡

【TEM066】 EELSによる試料の厚さ測定 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 冷陰極電界放出電子銃、EELS、試料厚さ測定

【TEM065】 FIBによるTEM断面試料作製とその分析 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
集束イオンビーム加工観察装置 FB-4080
キーワード 集束イオンビーム、断面TEM観察、イオンシニング法、走査イオン顕微鏡像、ダイシングソー、粗加工、中加工、仕上げ加工、分析電子顕微鏡、FIB、SIM、TEM、EDX

【TEM064】 高分子材料の引っ張りその場観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード 高分子材料、引っ張り、Alメッシュ、クレーズ、無染色・凍結

【TEM063】 HF-2000によるマッピングとライン分析の応用 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、STEM、EDXマッピング、ライン分析、アニュラー検出器、HAADF

【TEM062】 乳製品の透過電子顕微鏡観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過電子顕微鏡、乳製品、樹脂包埋超薄切片、凍結割断レプリカ

【TEM061】 大豆とその加工品の電子顕微鏡観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過型電子顕微鏡、大豆とその加工品、固定・包埋、超薄切片

【TEM060】 Si自然酸化膜の極微小部EELS分析 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、EELS、自然酸化膜、極微小部分析

【TEM059】 スロースキャンCCD-TVシステムによるオートチューニング ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード スロースキャンCCD、オンラインシステム、オートチューニング、オートスティグマ、オートフォーカス

【TEM058】 H-7100透過電子顕微鏡による植物細菌およびウイルスの観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード ネガティブ染色法、植物細菌、植物ウイルス、透過電子顕微鏡

【TEM057】 パラフィン結晶の低温高分解能観察 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-8100

【TEM056】 スロースキャンCCD-TVシステムの応用 その1:性能の確認と材料への応用 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード Slow scan CCD、線分解能、画素、感度、スルーフォーカス、オンライン、フーリエ変換、フィルタリング

【TEM055】 ステップスポットスキャンTEM(SSSTEM)法とその応用 ユーザー限定

使用装置 透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード 透過形電子顕微鏡、ステップスポットスキャンTEM法(SSSTEM法)、試料傾斜、自動焦点補正機能(ダイナミックフォーカス)、ロードース照射法

【TEM054】 HF-2000形によるEDX分析の空間分解能 ユーザー限定

使用装置 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード 電界放出電子顕微鏡、析出物、極微小部分析、EDX

関連リンク

関連情報

お問い合わせ