アイコン一覧
発光分光分析装置（ICP）のアイコン一覧
・・・ シーケンシャル型
・・・ 多元素同時（マルチチャンネル）型
・・・ コンパクト設計で省スペースタイプの装置
・・・ 高分解能
・・・ ハイパーダイレクトドライブシステム
・・・ CCD（電荷結合素子）検出器搭載
・・・ CRI（コリジョン リアクション インターフェイス）搭載
・・・ 90度偏向イオン光学系を採用
・・・ シングルコレクタ型
・・・ マルチコレクタ型
・・・ 二重収束型
・・・ 四重極
・・・ 真空紫外線（Vacuum Ultra Violet, VUV）
・・・ マルチ・ビュー（ラジアル／アキシャルの完全な切り替え機能）
・・・ チラー（循環冷却水装置）不要
蛍光X線分析装置（XRF）のアイコン一覧
・・・ 液化窒素レスタイプ
・・・ X線の上面照射タイプ
・・・ X線の下面照射タイプ
・・・ DPD（デジタルピーク分離）ソフト内蔵
・・・ 精度管理型の有害物質管理ソフト
・・・ 試料室に複数の試料を並べて測定する連続多点測定機能搭載
・・・ 元素の二次元マッピング像取得に対応
・・・ RoHS対応向け
・・・ 一般分析向け
・・・ 異物分析向け
・・・ 連続測定
・・・ X線透過システム
・・・ 自動異物検出
・・・ 高分解能顕微鏡
・・・ 土壌分析
膜厚測定装置のアイコン一覧
・・・ X線の上面照射タイプ
・・・ 焦点距離切換機能付きズーム式光学系採用
・・・ 75WハイパワーX線管球搭載
・・・ 装置と試料の衝突防止機能搭載
・・・ 高精度ステージを採用
・・・ レーザーフォーカス
・・・ 薄膜FP法ソフト付属
・・・ オートフォーカス
・・・ 広域観察システム搭載
・・・ 標準試料不要
・・・ X線集光光学系
・・・ 高輝度照明
・・・ 微小領域
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）のアイコン一覧
・・・ AFM表面粗さJIS規格（JIS R 1683：2007）対応
・・・ SIS（サンプリング・インテリジェント・スキャン）モード搭載
・・・ Q値コントロール機能対応
・・・ クローズドループ制御機能対応
・・・ 光てこ方式（低コヒーレントレーザー）
・・・ 光てこ方式（半導体レーザー）
・・・ 自己検知方式
・・・ 低ドリフト
・・・ 液中測定対応
・・・ 真空中測定対応
・・・ 温度制御対応
・・・ 6インチ、8インチ試料対応
・・・ カンチレバー自動交換機能搭載
・・・ コンパクト設計で省スペース
・・・ お求め安い価格設定
・・・ RealTune®II 測定パラメータ自動調整機能