汎用小型ユニット AFM5100N
特長
ピンポイントアプローチタイプのカンチレバーによる正確な位置決め
カンチレバーが、探針先端の位置を直上から確認できる構造になっており、測定箇所の位置合わせが簡単です。さらに、探針の先鋭化により高分解能化も達成しています。

手軽に調整可能な新型光ヘッド
レーザー位置調整のための調整機構を5軸から4軸に減らし、CCD像とポジションモニタを見ながら調整するため初めての方でも容易に調整することができます。

ナビゲートシステムによる簡単操作
フローチャート形式ナビゲートシステムにより、どなたでもスムーズに高分解能な表面観察を行うことができます。また、試料の硬さや凹凸の大きさといった質問に感覚的に答えることで、測定パラメータを簡単に設定することができます。

省スペース設計の実現
装置本体に、除振機構、防風カバー、試料とカンチレバーを観察できる直上USBカメラがついて、非常にコンパクトにまとまっています。
簡便な機能変更対応
専用ソフト、カンチレバーホルダの交換により簡便に機能を変更することができます。

仕様
検出系 | 光てこ方式 |
---|---|
検出系の光源 | 半導体レーザー |
分解能 | 原子分解能 |
試料サイズ | 最大35 mmφ、厚さ10 mm 最大50 mm角、厚さ20 mm* |
スキャナ(走査範囲) | オープンループ
|
光学顕微鏡 |
|
基本機能 | 光てこ:AFM、DFM、PM、FFM |
機能拡張性* | SIS、STM、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、SSRM、SNDM、PRM、KFM、EFM、MFM |
除振機構 |
|
試料移動機構 | マニュアルステージ XY:±2.5 mm インパクトステージセット* |
対応環境 | 大気、液中*、湿度*、加熱*(室温~250℃) |
* オプション品
アプリケーション
走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)のアプリケーション(測定事例)を紹介しています。
製品ユーザー向け情報
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初めてお使いになるお客様へ
関連情報
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