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Hitachi

株式会社 日立ハイテク

分析 受託評価サービス

試験事業

カーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で研究開発をサポートします。

受託分析(例)

物理分析

物理分析

付着異物分析、含有量調査、不純物分析、合金層解析、材種判定、有害物質分析など、試料表面・断面の材質や状態に関わらず、様々な分析技術・方法(元素分析・化学結合状態分析・結晶構造解析など)に対応します。

化学分析

化学分析

HPLC・GC・ICP・FT-IRなどによる対象成分・元素・イオンの各種分析を行います。材質確認、原因調査、有害物質調査、薬物濃度測定など、公定法から検討が必要な分析までご要望に合わせた技術サービスをご提供します。

非破壊解析

非破壊解析

SAT、X線残留応⼒測定装置を使用し、非破壊でしか得ることのできない製品の内部構造に関する情報を調査し、ご提供致します。

試料調整

試料調整

試料調整サービスでは、各種の観察・分析の前に必要とされる「切断・樹脂包埋・断面研磨・エッチング・蒸着・薄膜加工・試料溶解」などの試料調整を実施致します。

受託分析 実績

Q:製品の断面状態を確認しながらSEM観察を実施したい。

WEB立ち会いサービスにより、遠隔地にいるお客様へリアルタイムで撮像状況をご確認頂きながら、観察・撮影個所の要望を聞きながら操作を行うことが可能です。

Q:Liイオンバッテリーの解析をしたい。

高精度な性能評価試験に加え、試験後の分析評価までをトータルでご提供します。
放電性能試験やサイクル寿命性能試験、保存性能試験などを一括して行うことが可能で、試験後の分析評価では非曝露システムを搭載した装置を用いることで、グローブボックスを介して同一試料を複合解析できます。

Q:自社製品のRoHS/ELVスクリーニング分析を実施したい。

RoHSスクリーニング分析では迅速にRoHS/ELV指令対象物質5元素(Pb、Hg、Cd、全Cr、全Br)のスクリーニング分析が可能です。

対応分析設備(一部)

FIB-SEM(集束イオンビーム)

NX5000型

  • イオン源:Ga液体金属イオン源
  • FIB分解能:4nm(30kV)
  • SEM分解能:0.7nm(15kV)
  • 最大電流:100nA
  • 加速電圧:0.5kV~30kV
  • 最大試料サイズ:Φ150mm

SAT(超音波顕微鏡)

GEN-6型

  • プローブ:10/15/20/30/50/75/100/230MHz
  • 透過スキャン:~100MHz
  • ゲイン:最大95dB
  • 測定ポイント:max32,768×32,768ポイント
  • ゲート幅(Z軸分解能):1ns
  • パルスレシーバ:500MHz高性能デュアルパルスレシーバ
  • ポリゲート:1度のスキャンにつき、100界面を分割可能
  • VRMーFET機能:サンプルの全波形をレコーディング及び任意の周波数成分を画像化
  • その他解析ソフト:積層解析、厚み解析、反り解析、画像自動判定

摩擦摩耗試験器

UMT-TriboLAB

  • 荷重:0.05N~2,000N
  • 回転数:0.1~5,000rpm
  • 摩擦力:
    フリクションセンサー: 0.05~2,000N
    往復フリクションセンサー: 7.5~750N
    回転トルクセンサー:3.5mNm~11.3Nm
    BOR(ブロックオンリング)フリクションセンサー: 7.5~750N
  • 駆動:往復・回転・BOR・スクラッチ

【環境制御】

  • 加熱:1,000°Cまで
  • 冷却:-25°Cまで
  • 湿度:5~85%
  • 潤滑可:150°Cまで
  • 所有台数:2台

XRD(X線回析装置)

SmartLab

  • 最大定格出力:3kW
  • X線管球:Cu、Cr
  • 検出器:半導体1次元検出器
  • 入射・受光光学系:
    多層膜ミラー
    CBOユニット(平行ビーム法、集中法切替可能)
    微小部光学系 CBO-fユニット、CCDカメラ
  • 高温アタッチメント:HTK1200(使用温度:室温~1,200°C)
  • 最大試料寸法:Φ100㎜以下、高さ20mm以下

IC(イオンクロマトグラフ)

LC-20ADsp

  • 検出器:電気伝導度検出器 サプレッサ式
  • セル容量:0.25µL
  • セル定数:25cm-1
  • 使用カラム:Shim-pack IC-SA2

ICP-MS(ICP質量分析装置)

Agilent 7700x

  • 質量範囲:2~260amu
  • 質量スキャンスピード:>3,000amu/s(LiからUに加えて、40の元素データ採取)
  • アバンダンス感度:低マス側:5×10-7 高マス側:1×10-7
  • 最小ドウェルタイム:100µs

Cs-STEM(球面収差補正機能付き走査型透過電子顕微鏡)

HD-2700

  • 倍率:100~10,000,000倍
  • 分解能:0.105nm(200kV)
  • 搭載OPP:
    Dual-EDX(Oxford社)
    Dual-EELS(Gatan社Enfinium)
    非曝露、冷却ホルダー
    二次電子検出器(SE)
    低加速電圧:80,120V

LC-MS(高速液体クロマトグラフ質量分析計)

LCMS-8040

  • 検出器:トリプル四重極型質量分析計
  • 質量範囲:m/z10~2,000
  • イオンソース:ESI/APCI

GC-MS(ガスクロマトグラフ質量分析計)

Agilent 7890B 5977B GC/MSD

  • 検出器:シングル四重極質量分析計
  • 温度範囲:~450°C
  • 質量範囲:m/z1.6~800
  • イオン化法:EI
  • 前処理ユニット:加熱脱着システム

FT-IR(フーリエ変換赤外分光光度計)

FrontierGold

  • 検出器:DTGS検出器
  • オプション:ユニバーサルATR
  • 測定モード:透過/反射/ATR
  • 波数範囲:8,300~400cm-1

Spotlight200i

  • 検出器:MCT検出器
  • オプション:電動ステージ

他にも多数の設備を取り揃えております。

お問合せ先

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