産業（デバイス）

フォトマスク

製造装置

• ウェットステーション
• 液晶用マスクリペア装置

製関連製品

• コンテンツデリバリサービス

製品

• セイコーエプソンIC

材料

• 高純度シリコン
• 工業用ガス
• 剥離材 NMP
• 半導体用薬品
• CSP基板

• ページの先頭へ

半導体

生産管理

• VCIM
• RFIDによる半導体工程管理

製造装置

• エッチング装置 9000シリーズ
• エッチング装置 M-8000シリーズ
• エッチング装置 M-600/6000シリーズ
• リユース(中古装置)
• ウェットステーション

評価装置

• ウエハ表面検査装置
• ウエハ欠陥検査装置
• 微小デバイス特性評価装置
• 走査透過電子顕微鏡
• 超音波検査装置

観察装置

• 集束イオン/電子ビーム加工観察装置
• 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
• 走査型プローブ顕微鏡

計測観察装置

• 白色干渉計

分析装置

• 分光光度計
• 低エネルギーイオン散乱分光測定装置
• 受託分析

サービス

• 製造装置
• 評価装置

• ページの先頭へ

パワーデバイス

製造装置

• エッチング装置 M-600/6000シリーズ
• ウェットステーション

評価装置

• 超音波検査装置
• 静特性測定装置
• 動特性測定装置
• 過渡熱抵抗測定装置
• サイクル試験装置

計測観察装置

• 白色干渉計

観察装置

• 走査型プローブ顕微鏡

• ページの先頭へ

LED

製品

• 赤外発光ダイオード
• レーザーダイオード

製造装置

• ウェットステーション

評価装置

• 熱抵抗測定装置

分析装置

• 分光光度計

計測観察装置

• 白色干渉計

観察装置

• 走査型プローブ顕微鏡

• ページの先頭へ

SAWフィルター

製造装置

• ウェットステーション

評価装置

• 超音波検査装置

計測観察装置

• 白色干渉計

観察装置

• 走査型プローブ顕微鏡

• ページの先頭へ

太陽電池

材料

• 半導体関連部材
• 太陽電池部材

製造装置

• コーター/塗工機

分析装置

• 大気中光電子分光装置
• 分光光度計
• ガスバリア試験装置

• ページの先頭へ

リチウムイオン二次電池

ソリューション

• 開発ソリューション・製造ソリューション・ 品質管理向けソリューション
• 電池ライフサイクルマネジメントソリューション

材料

• リチウムイオン二次電池
• 機能性銅箔
• アルキルカーボネート

製造装置

• 二次電池組立システム
• ロール成形機
• コーター/塗工機

分析装置

• 水分測定装置
• 偏光ゼーマン原子吸光光度計
• 熱分析装置
• ガスバリア試験装置

観察装置

• X線異物解析装置
• 走査型プローブ顕微鏡

• ページの先頭へ

液晶

製品

• 液晶モニタ
• 液晶パネル

材料

• スマホ・タブレット用部材
• 液晶パネル部材
• ホトレジスト、現像液
• 液晶用薬品

生産管理

• VCIM

製造装置

• ウェットステーション

分析装置

• 熱分析装置

• ページの先頭へ

タッチパネル

製品

• タッチパネルPC
• マルチタッチモニタ

材料

• タッチパネル用フィルム

製造装置

• レーザ加工装置

• ページの先頭へ

ハードディスク

製造装置

• 枚葉式イオンミリング装置
• バッチ式イオンビームミリング装置

観察装置

• 走査型プローブ顕微鏡

• ページの先頭へ

プリント基板

生産管理

• VCIM

搭載装置

• モジュラーマウンタ ΣF8
• モジュラーマウンタ ΣG5

計測装置

• 膜厚測定装置

分析装置

• 熱分析装置

評価装置

• 走査電子顕微鏡

製造装置

• プラズマ処理装置 デスミア／デスカム／表面改質
• Plasma Cleaner
• レーザ加工装置

• ページの先頭へ

MEMS

製造装置

• ウェット処理装置
• 光焼成装置
• イオンミリング装置

評価装置

• 超音波映像装置

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