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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

第109回分析基礎セミナー
「原理から学ぶ機器分析[1] 走査電子顕微鏡」

九州大学中央分析センター主催の「第109回分析基礎セミナー」におきまして、「原理から学ぶ機器分析[1] 走査電子顕微鏡」を弊社でも協力させていただくこととなりました。
学外の方(民間企業の方や他の大学・研究機関の方)も申込可能です。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年4月19日(水)

開催時間

13:00~17:00

会場案内

福岡県福岡市西区元岡 744番地
九州大学伊都キャンパス・工学部大講義室
(総合学習プラザ2F)

参加費

無料

定員

申込人数の制限はありません。

主催

九州大学中央分析センター

共催

九州大学ナノテクノロジープラットフォーム

協力

株式会社日立ハイテクノロジーズ

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

お問い合わせ先

九州大学中央分析センター伊都分室
担当/渡辺様
TEL:092-802-2857

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
13:00~14:05

原理から学ぶ走査電子顕微鏡

SEM(Scanning Electron Microscope)とは何か、また、SEMでどのような情報が得られるのか、装置構成を含め、SEMの原理と基礎を解説します。
14:05~15:05

SEM観察のための前処理技術

SEM観察にあたってはどのような準備が必要なのか、前処理方法および前処理装置に関して解説します。
15:20~16:00

目的別SEMの選択法

実際のSEM利用にあたり、中央分析センターに装置されている日立ハイテクノロジーズ製SEMの特徴、使い分けを解説します。
16:00~17:00

SEMの観察テクニックと応用技術

SEMを使用する際に起こりうる障害に対し、解決方法、観察テクニックの解説をします。
併せて最新の観察応用技術の紹介を行います。