アイメッセ山梨にて、ものづくり支援において製品開発・品質管理をサポートする顕微鏡の基礎を中心にセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
無料
80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当：小平（おだいら）/松原
TEL：03-3504-7378
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 12:30～ | 受付開始 |
| 13:00～13:50 | 走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～ |
| 13:50～14:15 | 新形卓上顕微鏡Miniscope®のご紹介 |
| 14:15～14:45 | 走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡のご紹介 ～電子顕微鏡分析を補うもの～ |
| 14:45～15:05 | 休憩 |
| 15:05～15:35 | 最新FE-SEMアプリケーションのご紹介 ～観察・分析のトレンド～ |
| 15:35～16:25 | SEM試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～ |
| 16:25～16:55 | EDXの原理と分析の基礎 ～最新検出器のご紹介～ブルカー・エイエックスエス株式会社 |
| 16:55～ | 閉会の挨拶 |
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