アイメッセ山梨にて、ものづくり支援において製品開発・品質管理をサポートする顕微鏡の基礎を中心にセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
無料
80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:小平(おだいら)/松原
TEL:03-3504-7378
時間 | テーマ/内容 |
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12:30~ | 受付開始 |
13:00~13:50 | 走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~ |
13:50~14:15 | 新形卓上顕微鏡Miniscope®のご紹介 |
14:15~14:45 | 走査型プローブ顕微鏡と走査型白色干渉顕微鏡のご紹介 ~電子顕微鏡分析を補うもの~ |
14:45~15:05 | 休憩 |
15:05~15:35 | 最新FE-SEMアプリケーションのご紹介 ~観察・分析のトレンド~ |
15:35~16:25 | SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~ |
16:25~16:55 | EDXの原理と分析の基礎 ~最新検出器のご紹介~ブルカー・エイエックスエス株式会社 |
16:55~ | 閉会の挨拶 |