日立ハイテクノロジーズとブルカー・エイエックスエスは日立ハイテクノロジーズ 東京ソリューションラボにて材料解析をサポートするSEM観察技術および最新のマイクロアナリシス技術についてセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
2017年8月30日(水)
10:30~16:30(受付開始 10:20~)
神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1 かながわサイエンスパーク R&DビジネスパークC棟
日立ハイテクノロジーズ 東京ソリューションラボ 3Fセミナールーム
ブルカー・エイエックスエス株式会社
無料
20名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム営業本部 マーケティング部
担当:浅見/立花
TEL:03-3504-5118
時間 | テーマ/内容 |
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10:20~ | 受付開始 |
10:30~10:35 | 開会の挨拶 |
10:35~11:35 | 日立最新FE-SEM:Regulusの紹介Bruker EDX:FlatQuadのアプリケーション事例紹介Bruker EDX:XFlash - 高エネルギー分解能EDXのアドバンテージ - |
11:35~12:15 | 日立ショットキーSEM SU5000 の新検出器/新機能紹介Bruker EBSD:e-Flashのアプリケーション事例紹介 |
12:15~13:05 | 昼食(お弁当を用意いたします) |
13:05~13:45 | SEM用µXRF(XTrace)と膜厚樹能測定機能の紹介 (英語講演) |
13:50:~16:00 | 日立ハイテク東京ソリューションラボ実機紹介 |
16:00~16:30 | 質疑応答・まとめ |
16:30~ | 閉会の挨拶 |