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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

マイクロアナリシス 共同セミナー

日立ハイテクノロジーズとブルカー・エイエックスエスは日立ハイテクノロジーズ 東京ソリューションラボにて材料解析をサポートするSEM観察技術および最新のマイクロアナリシス技術についてセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催概要

開催日

2017年8月30日(水)

開催時間

10:30~16:30(受付開始 10:20~)

会場案内

神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1 かながわサイエンスパーク R&DビジネスパークC棟
日立ハイテクノロジーズ 東京ソリューションラボ 3Fセミナールーム

共催

ブルカー・エイエックスエス株式会社

参加費

無料

定員

20名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム営業本部 マーケティング部
担当:浅見/立花
TEL:03-3504-5118

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
10:20~ 受付開始
10:30~10:35 開会の挨拶
10:35~11:35

日立最新FE-SEM:Regulusの紹介

Bruker EDX:FlatQuadのアプリケーション事例紹介

Bruker EDX:XFlash - 高エネルギー分解能EDXのアドバンテージ -

11:35~12:15

日立ショットキーSEM SU5000 の新検出器/新機能紹介

Bruker EBSD:e-Flashのアプリケーション事例紹介

12:15~13:05 昼食(お弁当を用意いたします)
13:05~13:45

SEM用µXRF(XTrace)と膜厚樹能測定機能の紹介 (英語講演)

13:50:~16:00

日立ハイテク東京ソリューションラボ実機紹介

16:00~16:30

質疑応答・まとめ

16:30~ 閉会の挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。