日立ハイテクノロジーズとブルカー・エイエックスエスは日立ハイテクノロジーズ 東京ソリューションラボにて材料解析をサポートするSEM観察技術および最新のマイクロアナリシス技術についてセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
2017年8月30日（水）
10:30～16:30（受付開始 10:20～）
神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1 かながわサイエンスパーク R&DビジネスパークC棟
日立ハイテクノロジーズ 東京ソリューションラボ 3Fセミナールーム
ブルカー・エイエックスエス株式会社
無料
20名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム営業本部 マーケティング部
担当：浅見/立花
TEL：03-3504-5118
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 10:20～ | 受付開始 |
| 10:30～10:35 | 開会の挨拶 |
| 10:35～11:35 | 日立最新FE-SEM：Regulusの紹介Bruker EDX：FlatQuadのアプリケーション事例紹介Bruker EDX：XFlash - 高エネルギー分解能EDXのアドバンテージ - |
| 11:35～12:15 | 日立ショットキーSEM SU5000 の新検出器/新機能紹介Bruker EBSD：e-Flashのアプリケーション事例紹介 |
| 12:15～13:05 | 昼食（お弁当を用意いたします） |
| 13:05～13:45 | SEM用µXRF（XTrace）と膜厚樹能測定機能の紹介 （英語講演） |
| 13:50:～16:00 | 日立ハイテク東京ソリューションラボ実機紹介 |
| 16:00～16:30 | 質疑応答・まとめ |
| 16:30～ | 閉会の挨拶 |
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