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電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

第2回 AFMソリューションセミナー(大阪)
~AFMによるナノメカニクス設計&AFM高性能化技術~

グランフロント大阪タワーにて、AFMによるナノメカニクス計測およびAFM高性能化技術をテーマに開催させていただくことになりました。
それぞれの第一人者である東京工業大学 中嶋教授、金沢大学 福間教授をお招きし、最新の技術情報についてご紹介いただきます。さらにウルトラミクロトームによる前処理ノウハウ、最新のAFM技術やアプリケーションについてもご紹介させていただきます。
なお、セミナー終了後は、クロストーキング(ポスターセッション)を予定し、気軽に外部講師の先生方や弊社スタッフとのディスカッションの機会を設けております。奮ってご参加賜りますようご案内申し上げます。

開催概要

開催日

2017年11月22日(水)

開催時間

13:00~17:45(受付開始 12:30~)

会場案内

大阪府大阪市北区大深町4-1
グランフロント大阪タワー RoomC03-04(8F)

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
コミュニケーション戦略グループ
担当:野村
TEL:050-3139-4299

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:05 開会の挨拶
13:05~14:05

【基調講演】AFMによるナノメカニクスの現状と展望

AFMを材料のナノメカニクス研究に利用することができる。弾性率などの定量評価、マッピング技術についてISO国際標準化の動向も含めて紹介する。
対象はゴム・プラスチックまたはそれらのアロイやコンポジットである。またAFMナノメカニクスの将来展望として、材料の粘弾性を定量評価できる新しい測定法についても紹介する。

東京工業大学
物質理工学院
教授 中嶋 健
14:05~14:35

【新技術】ナノメカニクス(SIS-QuantiMech)のご紹介

材料の研究・開発において局所の機械的物性評価ニーズは益々高まっています。日立ハイテクのSIS-ACCESSが安定したフォースカーブ取得を実現し、弾性率、吸着力など複数の物性情報を同時取得します。
一連の弾性率計測手法、表面処理が及ぼす影響や、環境制御型AFMによる温度制御下での弾性率計測など応用例を紹介します。

株式会社日立ハイテクサイエンス
BT設計部
岩佐 真行

14:35~14:55

AFMのためのウルトラミクロトームによる試料作製技術

生物組織を透過電子顕微鏡で観察できるよう薄切りするために開発されたウルトラミクロトームは、現在では材料分野にも多く用いられており、走査電子顕微鏡やAFMの前処理として面出し(断面作製)にも使用されています。
本発表では、AFMのためのウルトラミクロトーム技法について基本と注意すべきポイントを紹介します。

ライカマイクロシステムズ株式会社
アプリケーション部
長澤 忠広
14:55~15:10 コーヒーブレイク
15:10~16:10

【基調講演】AFM用力検出機構の高性能化とその応用事例

AFMにおいて、探針、カンチレバー、変位検出器、励振機構などから成る力検出系は、速度、感度、安定性といった多くのAFM基本性能を左右する非常に重要な構成要素である。
本講演では、我々が取り組んできたAFM力検出系の高性能化と、その原子・分子スケール計測への応用事例を紹介する。

金沢大学
理工研究域電子情報学系
教授 福間 剛士
16:10~16:30

【新技術】高性能力検出機構を搭載したAFM技術のご紹介

高性能力検出機構とIR光熱励振機構は、生体・有機試料へのダメージを防ぎ、半導体などの電子励起を低減し、通常のカンチレバーから高周波カンチレバーまで安定に振動させる、高性能なAFMを実現します。「高分解能」、「高速走査」、「多機能測定の高感度化」など、次世代AFMに不可欠な技術について紹介します。

株式会社日立ハイテクノロジーズ
電子顕微鏡第二設計部
繁野 雅次

16:30~17:00

AFM&CSI(走査型白色干渉顕微鏡)による3Dナノ計測ソリューション

操作性を進化させ広域高精度スキャナにより計測精度の向上をはかった走査型プローブ顕微鏡AFM5500M、広域・高速・高精度での測定が可能で新機能の高傾斜面測定を搭載した走査型白色干渉顕微鏡VS1000シリーズについて、それぞれの装置の特長を活かした相補的な活用事例をご紹介します。

株式会社日立ハイテクノロジーズ
アプリケーション開発部
伊與木 誠人

17:00~17:20

SÆMic.ソリューション(SEM+AFM相関顕微鏡手法)のご紹介

SEMによる組織、組成、元素分布観察等と、AFMによる3D形状計測、電流、電気抵抗、表面電位、仕事関数、磁性などの電磁気物性分布観察を同一箇所で行うSEM-AFM座標リンケージ共通ホルダおよび雰囲気遮断イオンミリング-SEM-AFM共通ホルダを用いた電池材料、ナノ材料、半導体、セラミック、磁性材料などへの応用事例をご紹介します。

株式会社日立ハイテクノロジーズ
アプリケーション開発部
山岡 武博

17:20~17:40

【新技術】ナノ分解能ラマン分光計測技術の紹介

ナノスケールの先端デバイスや高機能材料の組成や分子構造の解析技術を開発した。特殊な走査型プローブ顕微鏡用測定プローブの上方に励起光を照射し、そこから伝播・発生した局在的な光スポットを用いて、熱ダメージレスでナノ分解能のラマン分光計測を実現した。
本発表では開発技術の詳細および測定事例を紹介します。

株式会社 日立製作所
研究開発グループ
張 開鋒
17:40~17:45 閉会のご挨拶
17:45~19:00

クロストーキング(懇親会)

講演内容のポスターセッションを実施します。
各講演者への質疑応答も個別で行えますので是非ご参加ください。
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。