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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

表面観察解析セミナー 2017 in 長岡

~電子顕微鏡・解析装置の基礎と活用法~

ハイブ長岡にて、電子顕微鏡、分析・解析技術に関するテーマにて開催いたします。 奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2017年12月7日(木)

開催時間

13:00~17:00(受付開始 12:30~)

会場案内

〒940-2108
新潟県長岡市千秋3-315-11
ハイブ長岡 特別会議室(南)

主催

高山理化精機株式会社/株式会社日立ハイテクノロジーズ

協賛

長岡技術科学大学/ライカマイクロシステムズ株式会社

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:杉山
TEL:03-3504-5680

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:05 開催の挨拶
13:05~13:55

走査電子顕微鏡の原理と観察テクニック
~SEMで何ができるのか~

株式会社日立ハイテクフィールディング
13:55~14:25

EDX/EBSPの原理と分析の基礎

アメテック株式会社
14:25~14:55

卓上型顕微鏡の最新アプリケーションのご紹介
~TM4000Plus観察と解析のライブデモ~

14:55~15:10 休憩
※会場にて卓上顕微鏡TM4000Plusほか実機展示と実演を行います
15:10~15:50

電子顕微鏡を用いた表面形態・元素分析・結晶構造観察
~ミリメーターからナノメーター領域の観察手法~

長岡技術科学大学 分析計測センター
15:50~16:40

SEM 試料前処理の基礎
~SEM 観察のために何が必要か~

株式会社日立ハイテクフィールディング
16:40~17:00

Regulus シリーズFE-SEM のご紹介

17:00~ 質疑応答・閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。