第33回 材料解析テクノフォーラムを東京会場とLiveで接続し、
九州会場でも聴講いただけるようにサテライト会場として開催させていただくことになりました。
今回は、主に電子顕微鏡を用いた次世代材料開発の解析技術および製品をご紹介させていただきます。
奮ってご参加賜りますようご案内申し上げます。
2018年7月4日(水)
10:00~17:00(受付開始 09:30~)
〒812-0011
福岡県福岡市博多区博多駅前4丁目2番1号
zymax(ザイマックス)博多駅前ビル4F ホールA
無料
50名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム課
担当:福田
TEL:050-3032-9874
時間 | テーマ/内容 |
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09:30~ | 受付開始 |
10:00~10:10 | 開会の挨拶 |
10:10~11:00 | FIB-SEMを用いたゴム-黄銅接着層の3次元構造解析タイヤには黄銅めっきされたスチールコードが埋め込まれており、ゴムと強固に接着している。その接着層は取出して観察することが難しかった。 横浜ゴム株式会社 |
11:00~11:50 | 無機固体電解質を用いた全固体二次電池の開発と展望無機固体電解質を用いた全固体二次電池は、安全性、信頼性に優れた究極の次世代蓄電池として、近年その研究開発が活発化している。 大阪府立大学大学院工学研究科 |
11:50~12:10 | AFM&CSIによるナノ3D計測ソリューション近年、製品の高性能化、微細化に伴い、ナノオーダーの形状管理の必要性が高まってきている。 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
12:10~13:10 |
昼食 |
13:10~13:40 | FIB-SEM複合装置のラインナップと最新アプリケーションのご紹介日立FIB-SEM複合装置NX2000/NX9000は高品質・高精度試料作製や三次元構造解析に有効な装置としてお使いいただいております。 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
13:40~14:00 | FE-SEMによる最新の材料解析事例SEMによる材料解析は、表面微細構造、組成の観察や元素分析などの測定のみならず、in-situ測定や、複数機能を合わせた分析および相関観察が求められています。 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
14:00~14:20 | マルチユーザに対応した高分解能収差補正200kV STEM-TEM HF5000のご紹介近年、原子サイズ領域における構造観察や元素分析のご要望が高まっており、日立ハイテクでは、高分解能観察・高感度分析と高試料傾斜ができることを特長とし、冷陰極電界放出形電子銃と自動収差補正機能を有するSTEM用Csコレクタを搭載した加速電圧200kV分析電子顕微鏡HF5000を製品化いたしました。 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
14:20~14:40 | コーヒーブレイク |
14:40~14:50 | 【新技術紹介】FIB-Ar/Xeビームを用いた走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)によるドーパントプロファイル評価二次元ドーパントプロファイル評価手法の1つである走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)の前処理技術では、研磨による最表面出しが主流となっています。 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
14:50~15:10 | 「Ruli-TEM HT7800シリーズ」の材料解析への応用Ruli-TEMHT7800シリーズに新たなラインナップとして追加されたHT7820を中心に装置の特徴と各種材料の解析事例についてご紹介します。 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
15:10~16:00 | NHKスペシャル人体 電子顕微鏡3D映像化への挑戦これまで電子顕微鏡像は画像でしか紹介されてこなかった。 日本放送協会 放送技術局 |
16:00~16:50 | 環境制御電子顕微鏡による機能性材料のその場観察ガス反応触媒や、燃料電池など電池材料などの動作原理を解明するため手法のひとつとして、反応中のその場観察が行える環境制御電子顕微鏡技術について紹介する。 国立大学法人 東京大学 |
16:50~17:00 | 閉会のご挨拶 |