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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

日立SEM基礎セミナー2018(名古屋)

TKP名古屋駅前カンファレンスセンターにて、顕微鏡関連の基礎と前処理を中心にセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようご案内申し上げます。

開催概要

開催日

2018年7月5日(木)

開催時間

13:00~17:00(受付開始 12:30~)

会場案内

〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅2-41-5
TKP名古屋駅前カンファレンスセンター ホール8A

参加費

無料

定員

120名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム2グループ
担当:三尾(みつお)/加治屋(かじや)
TEL:050-3139-4566

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50

走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

13:50~14:15

☆小さくってもスゴいヤツ♪☆ コンパクト多機能SEMのご紹介

14:15~14:40

イオンミリング装置ArBlade 5000のご紹介

14:40~15:00 休憩
15:00~15:50

走査電子顕微鏡(SEM)試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

15:50~16:20

EDXの原理と分析の基礎

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

16:20~16:50

走査型白色干渉顕微鏡と 走査型プローブ顕微鏡のご紹介 ~電子顕微鏡分析を補うもの~

16:50~ 閉会の挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。