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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

日立SEM基礎セミナー2018(埼玉)

大宮ソニックシティーにて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催概要

開催日

2018年7月13日(金)

開催時間

13:00~17:30(受付開始 12:30~)

会場案内

〒330-8669
埼玉県さいたま市大宮区桜木町1-7-5 ソニックシティビル
大宮ソニックシティ4F(402~404会議室)

参加費

無料

定員

120名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当:杉山/桑原
TEL:03-3504-5680

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始 【卓上顕微鏡 TM4000Plus実機見学できます】
13:00~13:50

SEMの原理と観察テクニック ~SEMで何ができるのか~

良好なSEM像を得るためには加速電圧、電流量などを最適条件で使用する事が重要です。
基本に忠実に、すぐに使えるテクニックをご紹介します。

(株)日立ハイテクフィールディング
電顕アプリサポートグループ
13:50~14:15

低真空走査電子顕微鏡 最新アプリケーションのご紹介

検出器の感度向上により、低真空、無蒸着条件でも高解像度な像取得が可能になってきております。
最新アプリケーションをご紹介します。

14:15~15:00

走査型プローブ顕微鏡(AFM)と走査型白色干渉顕微鏡(WI)のご紹介

AFMはナノ領域の表面粗さや物性測定が可能な装置です。また、WIは広範囲のエリアを再現性良くナノオーダーでの表面粗さ測定が可能です。

15:00~15:20 ◆ 休憩 ◆ 【卓上顕微鏡 TM4000Plus実機見学】
15:20~15:40

SEM向け クラウド活用による画像共有 ~統合IoTサービスポータル「ExTOPE」のご紹介~

日立ハイテク装置向け 統合IoTサービスポータル「ExTOPE」を開発し、展開を促進しております。今回はSEMを対象とした機能概要をご紹介します。
15:40~16:30

SEM試料前処理の基礎 ~SEM観察のために何が必要か~

SEM像の出来栄えの8割は前処理で決まる!と言われます。
様々なサンプルへの最適な前処理手法をご紹介します。

(株)日立ハイテクフィールディング
電顕アプリサポートグループ
16:30~17:15

EDX、EBSDの原理と分析の基礎

EDX:元素特定、EBSD:結晶方位解析の2つのテーマの講演です。
CMOSを採用したEBSDの最新機種、Symmetryのご紹介も!

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
17:15~17:25

埼玉県産業技術総合センターのご紹介

埼玉県産業技術総合センター
17:25~17:30 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。