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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

日立材料解析新技術セミナー2018(名古屋)

TKP名古屋駅前カンファレンスセンターにて、最先端製品とアプリケーションを中心としたセミナーを実施いたします。
当日は、普段お困りの分析・評価方法についてのご相談にお応えしたいと考えております。
どうぞ奮ってご参加くださいますよう、よろしくお願い申し上げます。

開催日

2018年12月14日(金)

開催時間

13:00~17:35(受付開始 12:30~)

会場案内

〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅2-41-5
TKP名古屋駅前カンファレンスセンター ホール5A

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム2グループ
担当:三尾/坪井
TEL:050-3139-4566

スケジュール

スケジュール
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:05 開会の挨拶
13:05~13:50

【特別講演】クライオSEM観察を用いた粉体表面における液膜の計測

株式会社 豊田中央研究所
スラリー特任研究室
技師 秋元 裕介
13:50~14:30

材料解析に向けた日立SEM製品の紹介
~超高分解能ショットキー走査電子顕微鏡 SU7000~

14:30~15:00

高速・高精度・高分解 EDS, EBSDによる最新技術のご紹介

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
15:00~15:20

熱分析装置による材料評価事例

株式会社日立ハイテクサイエンス
15:20~15:40 休憩
15:40~16:10

AFM & CSIによるナノ3D計測ソリューション

株式会社日立ハイテクサイエンス
16:10~16:30

日立FIB-SEMによる最新アプリケーションのご紹介

16:30~16:50

日立200kV FE-TEM HF5000とアプリケーションのご紹介

16:50~17:35

【特別講演】SEM内での引張試験 -薄膜からカーボンナノチューブまで-

愛知工業大学工学部機械学科
教授 生津資大
17:35~ 閉会のご挨拶
17:50~18:50

クロストーキング

  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。
    あらかじめご了承ください。