日立ハイテクノロジーズ本社にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
2018年10月18日（木）
13:00～17:00（受付開始 12:30～）
〒105-8717
東京都港区西新橋1-24-14
株式会社日立ハイテクノロジーズ 201会議室
無料
100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学システム二部
担当：杉山／宮崎
TEL：03-3504-5680
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 12:30～ | 受付開始 |
| 13:00～13:05 | 開催の挨拶 |
| 13:05～13:50 | 走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～良好なSEM像を得るためには加速電圧、電流量などを最適条件で使用する事が重要です。観察テクニックをご紹介いたします。株式会社日立ハイテクフィールディング |
| 13:50～14:20 | EDXの原理と分析の基礎オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
| 14:20～14:45 | 魅せる観察へ！多目的SEMの最新状況のご紹介最新の簡便なタングステン型走査電子顕微鏡についてご紹介いたします。 |
| 14:45～15:00 | ◆ 休憩 ◆ 【卓上顕微鏡TM4000Plus実機展示有】 |
| 15:00～15:50 | 走査電子顕微鏡試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～SEM観察に当たって重要な前処理手法についてイオンミリング装置も含めてご紹介いたします。株式会社日立ハイテクフィールディング |
| 15:50～16:30 | 走査電子顕微鏡を用いた材料評価事例のご紹介最新のFE-SEM（SU5000,SU7000,Regulusシリーズ）のアプリケーションについてご紹介いたします。 |
| 16:30～17:00 | 走査型プローブ顕微鏡/非接触表面・層断面形状測定システムのご紹介ナノ領域の表面粗さや物性測定が可能な装置と広範囲のエリアを再現性良くナノオーダーでの表面粗さ測定が可能な装置をご紹介いたします。 |
| 17:00～ | 閉会のご挨拶 |
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