日立SEMセミナー2018（大阪）

ブリーゼプラザにて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催概要

2018年10月23日（火）

13:00～17:00（受付開始 12:30～）

〒530-0001
大阪市北区梅田2-4-9
ブリーゼタワー7階小ホール

無料

150名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

株式会社日立ハイテクノロジーズ
科学・医用システム部
担当：吉村
TEL：050-3139-4801

スケジュール
時間	テーマ／内容
12:30～	受付開始
13:00～13:05	開催の挨拶
13:05～13:50	走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック～SEMで何ができるのか～株式会社日立ハイテクフィールディング
13:50～14:10	魅せる観察へ！多目的SEMの最新状況のご紹介電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
14:10～15:00	SEM試料前処理の基礎～SEM観察のために何が必要か～株式会社日立ハイテクフィールディング
15:00～15:15	◆　休憩　◆
15:15～15:45	EDXの原理と分析の基礎オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
15:45～16:05	走査電子顕微鏡を用いた材料評価事例のご紹介電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
16:05～16:35	EBSD-結晶方位解析による材料評価オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
16:35～16:55	走査型プローブ顕微鏡/非接触表面・層断面形状測定システムのご紹介走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）走査型白色干渉顕微鏡（CSI）
16:55～17:00	閉会のご挨拶