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Hitachi

電子顕微鏡・医用機器・ライフサイエンス製品日立ハイテクノロジーズ

日立SEM基礎セミナー 2019(名古屋)

名古屋会議室プライムセントラルタワー名古屋駅前にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。

開催日

2019年7月12日(金)

開催時間

13:00~17:20(受付開始 12:30~)

会場案内

愛知県名古屋市西区名駅2-27-8
名古屋プライムセントラルタワー 13階

参加費

無料

定員

100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。

お申し込み

受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。

問い合わせ先

株式会社日立ハイテクノロジーズ
中部支店 解析システム部
担当 三尾 (みつお) / 坪井
TEL:050-3139-4566

プログラム

プログラム
時間 テーマ/内容
12:30~ 受付開始
13:00~13:50 走査電子顕微鏡(SEM)の原理と観察テクニック
~SEMで何ができるのか~
13:50~14:40 走査電子顕微鏡(SEM)試料前処理の基礎
~SEM観察のために何が必要か~
14:40~15:00 休憩
15:00~15:25 イオンミリング装置ArBlade5000のご紹介
15:25~15:50 魅せる観察へ!多目的走査電子顕微鏡(SEM)の最新状況のご紹介
15:50~16:10 SEM観察結果が生む画像解析システムのご紹介
(Hitachi Map 3D Image Pro)
16:10~16:40 EDXの原理と分析の基礎
(オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社)
16:40~17:10 走査型プローブ顕微鏡とナノ3D光干渉計測システム
アプリケーションのご紹介

17:10~ 閉会のご挨拶
  • * 演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。