名古屋会議室プライムセントラルタワー名古屋駅前にて、走査電子顕微鏡の基礎を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
2019年7月12日（金）
13:00～17:20（受付開始 12:30～）
愛知県名古屋市西区名駅2-27-8
名古屋プライムセントラルタワー 13階
無料
100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
中部支店 解析システム部
担当 三尾 （みつお） / 坪井
TEL：050-3139-4566
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 12:30～ | 受付開始 |
| 13:00～13:50 | 走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～ |
| 13:50～14:40 | 走査電子顕微鏡（SEM）試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～ |
| 14:40～15:00 | 休憩 |
| 15:00～15:25 | イオンミリング装置ArBlade5000のご紹介 |
| 15:25～15:50 | 魅せる観察へ！多目的走査電子顕微鏡（SEM）の最新状況のご紹介 |
| 15:50～16:10 | SEM観察結果が生む画像解析システムのご紹介 （Hitachi Map 3D Image Pro） |
| 16:10～16:40 | EDXの原理と分析の基礎 （オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社） |
| 16:40～17:10 | 走査型プローブ顕微鏡とナノ3D光干渉計測システム アプリケーションのご紹介 |
| 17:10～ | 閉会のご挨拶 |
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