～電子顕微鏡、解析装置の基礎と活用法～
テクノプラザおかやにて電子顕微鏡、分析・解析技術に関するテーマにて開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
2019年7月17日（水）
10:00～16:30（受付開始 09:30～）
〒394-0028
長野県岡谷市本町1丁目1番1号
テクノプラザおかや 1F 大研修室
無料
80名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
評価解析システム営業本部 解析二部
担当 石本 / 宮崎
TEL：03-3504-7378
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 09:30～ | 受付開始 |
| 10:00～10:50 | 走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～ |
| 10:50～11:15 | 魅せる観察へ！多目的走査電子顕微鏡（SEM）の最新状況のご紹介 |
| 11:15～11:40 | 走査電子顕微鏡を用いた材料評価のご紹介 |
| 11:40～12:05 | 卓上顕微鏡 TM4000Plusの最新アプリケーションのご紹介 |
| 12:05～13:00 | 昼食（※ 当社にて準備いたします。） |
| 13:00～13:50 | SEM試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～ |
| 13:50～14 :15 | イオンミリング装置ArBlade5000のご紹介 |
| 14:15～14:45 | EDXの原理と分析の基礎 （オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社） |
| 14:45～15:00 | 休憩 |
| 15:00~15:30 | 走査型プローブ顕微鏡とナノ3D光干渉計測システム アプリケーションのご紹介 |
| 15:30～16:25 | 改正RoHS指令におけるフタル酸エステル類の制限施行目前！ フタル酸エステル類の管理と分析事例のご紹介 |
| 16:25~16:30 | 閉会のご挨拶 |
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