ブリーゼプラザ（大阪市北区）にて、走査電子顕微鏡（SEM）関連の基礎と前処理を中心としたセミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
150名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
* 原則として、同じ部署から2名まででお願いします。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
関西支店 解析システム部
担当 吉村 （よしむら）
TEL：050-3139-4801
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 12:30～ | 受付開始 |
| 13:00～13:50 | 走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～ |
| 13:50～14:40 | 走査電子顕微鏡（SEM）試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～ |
| 14:40～15:00 | イオンミリング装置ArBlade5000のご紹介 |
| 15:00～15:10 | 新しい機器の導入方法 ～残価設定型リースの魅力～ （オリックス・レンテック株式会社） |
| 15:10～15:30 | 休憩 |
| 15:30～15:55 | 魅せる観察へ！多目的走査電子顕微鏡（SEM）の最新状況のご紹介 |
| 15:55～16:20 | 卓上顕微鏡TM4000の最新アプリケーションのご紹介 |
| 16:20～16:50 | SEM/CSI/AFM 3D観察・計測ソリューションのご紹介 ～用途に合わせた計測手法～ |
| 16:50～17:20 | EDXの原理と分析の基礎 （アメテック株式会社エダックス事業部） |
| 17:20～17:25 | 閉会のご挨拶 |
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