本材料解析新技術セミナーでは、最先端製品とアプリケーションを中心とした新技術を紹介させていただきます。
当日は、普段お困りの分析・評価方法についてのご相談にお応えしたいと考えております。
どうぞ奮ってご参加くださいますよう、よろしくお願い申し上げます。
2019年12月10日（火）
13:00～17:35（受付開始 12:30～）
〒451-0045 愛知県名古屋市西区名駅2-27-8
名古屋会議室プライムセントラルタワー名古屋駅前 13階
無料
100名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
解析システム部
担当：三尾（みつお）／高橋
TEL：050-3139-4566
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 12:30～ | 受付開始 |
| 13:00～13:05 | 開会のご挨拶 |
| 13:05～13:45 | 材料解析を生かすための準備の話あいち産業科学技術総合センター共同研究支援部 計測分析室 主任研究員 杉本 貴紀 様 |
| 13:45～14:15 | 進化したFE-SEMならここまでわかる。
|
| 14:15～14:45 | EBSD法と最新のPegasus(EDS/EBSD)検出器アメテック株式会社株式会社TSLソリューションズ |
| 14:45～15:05 | AI(Deep learning)を用いた異物検査・粒子解析自動化ソリューションのご紹介 |
| 15:05～15:25 | 休憩 |
| 15:25～15:55 | SEM/FIBとAFM/CSIを複合的に用いた相関解析（SÆMic.）の紹介
|
| 15:55～16:20 | 収差補正STEM/TEM HF5000を用いた材料評価のための解析技術 |
| 16:20～16:45 | FIB-SEMによる解析の自動化に向けた取り組みについて |
| 16:45～17:30 | 環境電子顕微鏡を用いた液中挙動の観察環境電子顕微鏡は、ガス中や液中など材料が実際に動作する環境下において、その挙動を直接観察できる手法である。本講演では、環境電子顕微鏡技術について概説し、さらに、電池反応のその場観察結果を中心に最近の成果を紹介する。一般財団法人ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所 環境電子顕微鏡グループ 主任研究員 川﨑 忠寛 様 |
| 17:30～17:35 | 閉会のご挨拶 |
検索
Japan