分野別・モード別に分かれ、更に便利になった観察事例集をご利用下さい。
原理 | ||
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SPI No.66 | AFMスクラッチによる氷の融解 | |
SPI No.65 | 原子間力顕微鏡による氷の観察 | |
SPI No.64 | FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる 低ダメージ効果のSPMによる検証 |
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SPI No.63 | SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- |
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SPI No.1 | SPM概論 | |
NPX No.18 | 校正プログラムご紹介(Nanopics) | |
NPX No.17 | 大きな試料の観察用ステージ(Nanopics) | |
NPX No.16 | オプションソフトを使用した薄膜評価(Nanopics) | |
NPX No.15 | 小振幅DFMでの観察2(Nanopics) | |
NPX No.13 | 小振幅DFMでの観察1(Nanopics) | |
NPX No.10 | 観察装置による情報の違い(Nanopics) |
生体 | ||
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SPI No.43 | 水中における毛髪の表面形状観察 | |
SPI No.6 | 生きたガン細胞の直接観察 | |
SPI No.5 | ラット繊毛切片のDFM観察 | |
SPI No.4 | コラーゲン細繊維のDFM観察 | |
SPI No.3 | 走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察 | |
SPI No.2 | 走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察 | |
NPX No.22 | 染色体の形状観察(Nanopics) | |
NPX No.14 | 人の毛髪と羊毛のキューティクル形状観察(Nanopics) |
電気計測 | ||
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SPI No.60 | 鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ/ 基板の界面構造観察 |
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SPI No.59 | 燃料電池への応用 | |
SPI No.36 | SPMによる強誘電体薄膜への記録再生 | |
SPI No.13 | 金属酸化物のKFM観察 | |
SPI No.8 | Siウェハ上のCOP・異物観察 | |
SPI No.7 | シリコン単原子ステップの観察 |
高分子 | ||
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SPI No.67 | 位相測定によるポリスチレン/ポリブタジエンブレンド材の モルフォロジー観察 |
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SPI No.59 | 燃料電池への応用 -電解質膜の温度制御下および純水中での観察- |
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SPI No.54 | 温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察 | |
SPI No.53 | 2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定 | |
SPI No.52 | 押出し形成PETシートの表面転移温度測定 | |
SPI No.51 | SPMによる高分子材料の温度スウィープ測定 | |
SPI No.46 | 走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム 薄膜層の観察 |
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SPI No.45 | カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察 | |
SPI No.44 | ポリプロピレンブロックコポリマーの ガラス転移現象その場観察 |
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SPI No.42 | 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの 結晶ラメラ観察 |
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SPI No.41 | フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察 | |
SPI No.40 | 銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察 | |
SPI No.39 | スチレン・ブタジエン・スチレンブロック共重合体の ミクロ相分離構造の観察 |
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SPI No.38 | フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価Ⅱ | |
SPI No.35 | 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーの モルフォロジー観察 |
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SPI No.34 | ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析 | |
SPI No.33 | SPMによるアドヒージョン測定(吸着力分布測定) | |
SPI No.19 | ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察 | |
SPI No.18 | 顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察 | |
SPI No.17 | ゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察 | |
SPI No.16 | プラスチック(PBT・ABSブレンド)表面のLM-FFM観察 | |
SPI No.15 | フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察 | |
SPI No.14 | FFM(摩擦力顕微鏡)とLM-FFM(横振動摩擦力顕微鏡)について | |
SPI No.12 | 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定 | |
SPI No.11 | ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察 | |
SPI No.10 | LB膜のVE-AFM観察 | |
SPI No.9 | SPMによる位相測定 | |
NPX No.25 | 原子間力顕微鏡(AFM)と電子顕微鏡(SEM) の画像の比較Ⅰ(Nanopics) |
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NPX No.24 | 液晶配向膜成膜条件の評価(Nanopics) | |
NPX No.23 | 高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) | |
NPX No.4 | ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) |
磁気 | ||
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SPI No.69 | 垂直磁気異方性を有する高周波軟磁性膜の高分解能MFM観察 | |
SPI No.68 | 電気自動車用永久磁石の磁区観察 | |
SPI No.61 | 水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用 | |
SPI No.58 | ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界 | |
SPI No.57 | 単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動 | |
SPI No.56 | ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察 | |
SPI No.55 | 六角格子ネットワークの高分解能MFM観察 | |
SPI No.50 | MFM analysis of magnetization process in CoPt dot-array(英語版) |
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SPI No.49 | 磁気力顕微鏡による磁性体ナノドット配列のスピン構造の観察 | |
SPI No.48 | SPI4000 ActiveQ機能及び低モーメント探針による高感度、 高分解能MFM |
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SPI No.32 | 大型ステージユニットSPA500によるハードディスクの磁気力顕微鏡 (MFM)測定 |
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SPI No.31 | 大型ステージユニットSPA500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡 (MFM)測定 |
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SPI No.30 | 外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡(MFM)測定 | |
SPI No.29 | 位相検出法による磁気力顕微鏡(MFM)測定 | |
SPI No.28 | Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察 | |
SPI No.27 | 連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察 | |
SPI No.26 | Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察 | |
SPI No.25 | SPMによる液中AFM測定 | |
SPI No.24 | 隕石中の磁性物質のMFM観察 | |
SPI No.23 | MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察 | |
SPI No.22 | ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察 | |
SPI No.21 | Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察 | |
SPI No.20 | MFM(Magnetic Force Microscope) ~ 磁気力顕微鏡の紹介 |
原子像 | ||
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SPI No.47 | 走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察 |