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©日立計測エンジニアリング(株) 矢口紀恵、鶴田忠正、上野武夫©(株)日立製作所 計測器事業部 宮本卓治
汎用分析TEMの試料予備排気室内で加熱溶解したSi単結晶粒子にN2ガスを吹きつけて瞬間的に凝固させた。写真はその粒子の暗視野像である。粒子の一部は、ガスによって飛ばされ、飛沫状に変形しているが、その部分も含め、粒子全体が単結晶構造を保っている。
1995年(第51回)日本電子顕微鏡学会写真コンクール 出展作品
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