2010年度作品「金鯱」
眩い輝きを放つ金鯱。
シリコンウェハからFIBマイクロサンプリング法で高さ約10µmの試料を摘出し、3D解析ホルダーを用いて金鯱を作製しました。守り神として、また豊かさの象徴として尾張名古屋に根付いた金鯱は、FIBの加工技術によってミクロンオーダーになっても輝きを失いません。
2010年（第66回）日本顕微鏡学会
写真コンクール 最優秀作品賞受賞作品
撮影条件
- 試料：単結晶シリコン
- 測定装置：集束イオン/電子ビーム加工観察装置 nanoDUE'T® NB5000
- 撮影倍率：7,000倍
- 加速電圧：FIB 40kV、SEM 5kV
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*: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
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