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AFM/CITS(AFM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)

AFM/CITS(AFM/Current Imaging Tunneling Spectroscopy)

AFM/CITSとは、AFM(原子間力顕微鏡)で形状観察をしながらI/Vカーブを各ポイントで測定しマッピングするSPM(走査型プローブ顕微鏡)測定モードの一種。AFM/電流同時測定の拡張機能で、導電性のカンチレバーを用いて測定する。任意のバイアス電圧レベルでの電流像の表示が可能。

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
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