본문 바로가기

Hitachi

Hitachi High-Technologies Korea Co.,Ltd.

TM시리즈전용의 에너지분산형 X선분석장치 Quantax75

직감적인 간단조작

*
:TM4040Plus와의 조합 예
*
:검출기내장형
(제조원: 독일Bruker nano GmbH)

특징

간단조작으로 신속한 컬러X선 MAP

지정한 Spot위치의 스펙트럼 확인이 가능

듀얼모드표시

화상과 템플릿을 선택만으로, Word®, Excel®, Mapping을 하면서 실시간으로 포인트분석, 라인분석 결과를 표시. 다면적인 분석이 가능합니다.

하이퍼맵을 사용하여, 한번의 측정으로 Spot분석・라인분석·Mapping결과 취득가능

Spot분석

Spot위치의 이동에 맞추어 실시간으로 스펙트럼이 분석되기 때문에, 목적원소의 확인이 매우 간편합니다.

실시간 피크 분리(Online Deconvolution)MAP

보통의 MAP에서는 포개져서 표시되는 원소를, 실시간 피크분리하여 정확한 결과를 표시합니다.

사양

검출기

항목내용
검출기 소자 타입 Silicon Drift검출기
Silicon Drift검출기 30 mm2
에너지 분해능 148 eV(Cu-Kα) (Mn-Kα129 eV상당이하)
검출가능 원소 B5~Cf98

Technical magazine
"SI NEWS"

This journal addresses a wide range variety of research papers and useful application data using Hitachi science instruments.

nanoart(Global)

Photo collections of beauty of metals, minerals, organisms etc. reproduced by the electron microscope and finished more beautifully by computer graphic technology.

Related Product Categories

SCIENTIFIC INSTRUMENT NEWS

FE Electron Microscope IEEE Milestone Special Website