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Hitachi

日立ハイテクサイエンス

2016年5月13日

日立ハイテクサイエンスは6月1日より開催される、「電子機器トータルソリューション展/JPCA Show 2016」に出展します。
多くのお客様のご来場をお待ちしております。

開催概要

日時

2016年6月1日(水)~3日(金)
10:00~17:00

主催者

一般社団法人日本電子回路工業会(JPCA)

会場案内

〒135-0063
東京都江東区有明3-21-1
東京ビッグサイト
出展ブース:東5ホール小間No. 5E-08

プレゼンテーション

出展者(NRI)プレゼンテーション講演内容

出展者(NRI)プレゼンテーション講演内容
日時 2016年06月03日(金) 12:50~13:20
演題 「最新の蛍光X線膜厚計によるめっき厚測定と微細パターンを持つ電子回路基板への適用」
概要 近年、プリント基板など電子部品では50 μmを下回るような微細領域や10 nm程度の厚さに対する測定が求められています。最新モデルFT150シリーズでは、より高精度・高スループットな測定と操作性向上を実現しました。本シリーズの特長とアプリケーションについて紹介します。