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株式会社 日立ハイテクノロジーズ

ナノアート

ほとばしるガラス-瞬間凝固させたSi単結晶の暗視野像-

©日立計測エンジニアリング(株) 矢口紀恵、鶴田忠正、上野武夫
©(株)日立製作所 計測器事業部 宮本卓治

汎用分析TEMの試料予備排気室内で加熱溶解したSi単結晶粒子にN2ガスを吹きつけて瞬間的に凝固させた。写真はその粒子の暗視野像である。粒子の一部は、ガスによって飛ばされ、飛沫状に変形しているが、その部分も含め、粒子全体が単結晶構造を保っている。

1995年(第51回)日本電子顕微鏡学会
写真コンクール 出展作品

撮影条件

  • 試料:Si単結晶粒子
  • 測定装置:電子顕微鏡 H-9000NAR
  • 撮影倍率:15,000倍
  • 加速電圧:300 kV

処理条件

  • ヒーター温度:約1,450℃
  • 導入ガス圧力:1.5×105 Pa
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: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。
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: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
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