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Hitachi

株式会社 日立ハイテクノロジーズ

ナノアート

Panorama Diffraction Pattern

©(株)日立ハイテクノロジーズ 今野充、矢口紀恵、上野武夫、橋本隆仁、大西毅

世界初、試料を180°回転しながら観察した電子線回折像です。[110]を中心とした合計13個の電子回折像が欠落なく連続的に観察されています。中央はその観察に用いた試料のSEM像です。試料はFIBマイクロサンプリング法により直径0.2µmの円柱状に加工し、試料回転ホルダーを用いて観察しました。電子顕微鏡による三次元ナノ構造解析がまた一歩、進歩しました。

2005年(第61回)日本顕微鏡学会
写真コンクール 最優秀作品賞受賞作品

撮影条件

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: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。
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: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
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: 「nanoart」に掲載された写真、文章の無断転載を禁じます。
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: 「nanoart」は(株)日立ハイテクノロジーズの日本国内における登録商標です。