紫外可視近赤外分光光度計 UH4150

特長

検出器切り替え段差が少なく、切り替え付近の波長でも、より正確な測定が可能

自信のプリズムグレーティングダブルモノクロメータにより、低迷光、低偏光特性を両立

UH4150形はU-4100形の定評ある光学系を継承し、プリズム‐グレーティング（PG）のダブルモノクロ方式を採用しています。プリズム‐グレーティング（PG）方式は、一般的なグレーティング‐グレーティング（GG）方式の分光光度計に比べ、S偏光およびP偏光において光量の急峻な変化が少ないため、低透過・反射測定においてもノイズの少ない測定を提供します。

平行光束により、反射光、散乱光もより正確に測定可能

豊富な検知器をラインアップ、目的に応じた検知器の選択が可能

人間工学に基づく新デザインを採用

試料室開閉蓋の改良に加え、作業性の向上を図りました。
試料や付属装置の交換などを想定し、人間工学に基づくデザインを採用しました。

U-4100形で培われたお客さまのさまざまなニーズに対応する付属装置が使用可能

U-4100形の付属装置との共通化を図りました。
従来、ご利用の付属装置をUH4150形でも使用することができます^＊3。付属装置は着脱・交換可能のため、測定のバリエーションを広げることが可能です。

U-4100形と比較してさらなるハイスループット化を達成

定評のあるU-4100形の光学系をそのままに、よりハイスループットな測定が可能になりました。従来、1 nmのデータ間隔で測定するためにはスキャンスピード600 nm/minに設定する必要がありました。UH4150形では、データ取り込み方式の改良により、これまでの倍の1,200 nm/minで同様のデータ取得が可能となり、測定時間の短縮を実現しました^＊4。
下図に示す240～2,600 nmの範囲の測定が約2分で可能となります。紫外・可視・近赤外領域の測定を必要とする遮熱部材の測定などに有効です。

測定の自動化

自動確度可変絶対反射付属装置、自動偏光付属装置、自動X-Yステージ付属装置をそれぞれシステム化することで、測定の自動化を図るとともに、測定値の再現性向上、また測定に関わる時間の短縮が図れます。

• 自動測定システム詳細

*1

：2014年12月現在、U-4000形・U-4100形分光光度計

*2

：UH4150形本体には検知器が付属されていません。測定のためには、いずれかの検知器が必要です。また、装置本体の校正・性能確認のためには、いずれかのΦ 60積分球もしくは直入射検知器が必要です。

*3

：一部の付属装置を除きます。検知器関係の付属装置はケーブル等の交換、または改造が必要です。

*4

：試料特性、測定目的によっては適さないことがあります。状況に応じて、適切な測定条件に設定してください。

*

検知器を、 Φ 150 mm標準積分球（光トラップ付き）、 Φ 150 mm高感度積分球（光トラップ付き）、角度可変絶対反射付属装置（任意角度）、微小対応角度可変絶対反射付属装置（任意角度）をご選択の場合の仕様は、別途お問い合わせください。

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掲載のデータは測定例を示すもので、数値の保証をするものではありません。

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スペクトラロン®（Spectralon®）は、米国Labspere.Inc.の登録商標です。

仕様

測定用途にあわせた検知器選択例

測定例

微小試料の透過率測定

微小サンプル透過率測定システムにより微小ガラス片、ピックアップレンズなどの微小な試料の透過率測定が可能です。

拡散反射率測定

積分球（試料側角度0°）の背面に試料を設置することにより、粉末試料などの拡散反射率測定が行えます。