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技術機関誌 SI NEWS日立ハイテクノロジーズ

ご好評を戴いておりますUH4150形分光光度計と自動角度可変絶対反射付属装置、自動偏光付属装置、自動X-Yステージ付属装置をそれぞれシステム化し、販売を開始しました。測定の自動化を図ることにより、測定値の再現性向上、また測定に関わる時間の短縮が図れます。

主な特長
システム写真特長
自動偏光測定システム写真:自動偏光測定システム
  • 自動偏光付属装置は偏光解消板を内蔵しており、装置の光学特性を含まない測定が可能。
  • 透過率のもっとも低くなるクロスニコルの状態を最小0.01°単位で自動検出し、再現性の良い測定結果の取得可能。
  • 色彩(X,Y,Z)、L*,a*,b*、L,a,b、L*,u*,v*、色度座標x,y、偏光度の算出が可能
自動角度可変測定システム写真:自動角度可変測定システム
  • 自動角度可変付属装置は任意設定した条件(偏光子、入射角度、受光角度)の透過、反射スペクトルを連続自動で測定。
  • 絶対正反射率(5°~60°)を自動で測定
  • 1サンプル注1)の作業時間を約96%削減可能。
注1)5~70度(5度毎)、波長300~800 nm、反射スペクトル測定計28(S、P偏光)測定の場合
自動X-Yステージ測定システム写真:自動X-Yステージ測定システム
  • 自動XYステージ付5°反射 / 透過測定付属装置を搭載し,自動で入射角5°の相対反射スペクトル及び入射角0°の透過スペクトルが測定可能。
  • あらかじめ測定箇所を指定する事で、指定した箇所を連続測定。
  • 試料の設置などに関わる時間を大幅に削減することが可能注2)。
注2)測定箇所25点、実測定時間を除いた作業時間を92%削減可能。

写真:UH4150形分光光度計の外観

自動XYステージ付5°反射/透過測定付属装置外観と試料測定イメージ

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