蛍光X線分析装置 EA1400
RoHS対応をはじめ、スラグ、セメントなどの工程管理や品質管理、また、混入異物や異常部などの故障解析や調査分析など、多岐にわたるアプリケーションで高スループット分析を提供します。
* モニター画面ははめ込みです。
価格 お問合せ下さい
取扱会社：株式会社 日立ハイテクサイエンス
特長
新型シリコンドリフト検出器（SDD）を採用
- 高感度高スループット測定
高エネルギー側の量子効率を向上させた、新しいシリコンドリフト検出器（SDD）を搭載。Cd Kα, Pd Kα, Ba Kαなどのエネルギー帯に対し、高感度で高スループットな測定を実現します。
- 高分解能・高計数率を実現
高分解能・高計数率を実現したSDDにより、
EA1400は従来機よりも主成分に近接する微量元素の
検出性能に優れ、金属種の品質管理などに威力を発揮します。
- 真空システム＋新開発SDD
真空システムと新たなSDDの組み合わせにより軽元素の感度が大幅に向上したため、軽元素を含むスラグやセメントなどの工程管理や品質管理の強化に貢献します。
RoHS対応をはじめ幅広い領域で活躍
- RoHS対応：黄銅中のCdスクリーニング分析をさらに高スループット化
黄銅など金属に含まれる微量のCdの測定時間において、当社従来機(EA1000VX)に比べ2倍以上のスループットを実現します。
| 元素 | Cd | Pb | Cr |
|---|---|---|---|
| 黄銅 | 4 | 13 | 11 |
* 各検出下限は一例であり、保証値ではありません。
- 製錬炉の工程管理：高感度によりスラグの成分測定で迅速・高精度を実現
スラグの主要成分Si, Ca, Al, Mgの組成情報から製錬炉(工程)の状態管理を行います。特に、新型SDDによりMg等の軽元素の定量精度が向上しました。
- 品質管理：製品に付着・埋没した異物を検出
X線斜方照射方式では測定が難しい凹凸のある母材に付着した異物に対して、EA1400の試料同軸観察・X線垂直照射方式では異物を取り出すことなく、異物由来の元素を検出し物質同定することができます。
仕様
| 型式 | EA1400 |
|---|---|
| 測定元素 | Na（11）～U(92） |
| 雰囲気 | 大気仕様（Al～U） 真空仕様（Na～U） *オプション |
| X線照射方式 | 下面垂直照射型 |
| X線源 | 小型空冷式X線管球 (Rhターゲット) |
| 検出器 | 新型SDD |
| 分析領域 | 1、3、5 mmφ |
| 一次X線フィルタ | 5モード自動切換 |
| 試料室寸法 | 304（W）×304（D）×110（H）mm |
| 装置寸法 | 520（W）×600（D）×445（H）mm |
| 重量 | 69 kg |
| 電源 | AC100～240V （50/60Hz）/190VA |
| サンプルチェンジャ | 可能(12検体) *オプション |
蛍光X線分析の分析事例を紹介します。ID登録されていない方は新規登録が必要です。
蛍光X線分析の原理と応用例をご紹介しております。
環境指令への対応をサポートする専用装置の特徴をご紹介します。
蛍光X線分析の技術をコラムにまとめています。
蛍光X線分析についての参考文献・発表をまとめています。
環境規制と日立ハイテクサイエンスの製品・サービス
ISO/IEC17025認定試験所のご紹介です。
装置の保守・サービス会社のご案内です。
