蛍光X線分析/膜厚測定 アプリケーション
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蛍光X線分析の分析事例をご紹介しています。是非ご覧下さい。
装置別
| EA1400 | |
|---|---|
| XRF No.113 |
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| XRF No.112 |
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| XRF No.110 |
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| XRF No.109 |
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| FT160 | |
|---|---|
| XRF No.108 |
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| XRF No.107 |
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| XRF No.106 |
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| その他(蛍光X線分析) | ||
|---|---|---|
| SEA No.42 | SPECTRO XEPOSを用いた高炉スラグの分析 | |
| SEA No.39 | 炭素系材料中の微小金属異物の検査・分析 | |
| SEA No.37 | SEA1200VXを用いた薄膜FP法による 無電解ニッケルめっき皮膜中の微量鉛の測定 |
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| SEA No.36 | 蛍光X線分析装置を用いた薄膜FP法による 鉛フリーはんだめっき皮膜中の微量鉛の測定 |
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| SEA No.35 | 蛍光X線分析法によるハロゲンの測定 | |
| SEA No.34 | 蛍光X線分析法による玩具の測定 | |
| SEA No.33 | 蛍光X線分析での金属の検量線法における補正 | |
| SEA No.32 | 金属製アクセサリー中に含有する鉛の分析 | |
| SEA No.31 | SEA1000Aによる真鍮中の規制物質の測定 | |
| SEA No.30 | SEA1200VXによる鉛フリーはんだ中の微量鉛の測定 | |
| SEA No.29 | Snめっき中の微量鉛の測定 | |
| SEA No.28 | SEA1000Aによる鉛ﾌﾘｰはんだ中の微量鉛の測定 | |
| SEA No.27 | プラスチック中のカドミウム分析補正法 | |
| SEA No.26 | SEA5120によるプラスチック中のカドミウム分析 | |
| SEA No.25 | SEA2100によるプラスチック中のカドミウム分析 | |
| SEA No.24 | フィールドXによるスペクトルマッチング機能の紹介（SUS編） | |
| SEA No.23 | 蛍光X線分析における擬似吐しゃ物中のPbの測定 | |
| SEA No.22 | 陶磁器表面の異物測定 | |
| SEA No.21 | 卓上型微小部蛍光X線分析装置によるマッピング例 | |
| SEA No.20 | 卓上型蛍光X線分析装置によるヒジキ中のひ素の測定 | |
| SEA No.19 | X線上面照射方式（SEA5120）と X線下面照射方式（SEA2120）のAs検出下限 |
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| SEA No.18 | 金属アレルギーの歯科臨床検査への対応 | |
| SEA No.14 | SEAで定性を行う場合のテクニック | |
| SEA No.13 | スペクトルマッチングの紹介 | |
| SEA No.12 | 燃料油中の金属分迅測定量法の検討 | |
| SEA No.11 | 卓上型蛍光X線分析計の最新技術 | |
| SEA No.7 | エネルギー分散型蛍光X線分析 （マイクロエレメントモニタ）におけるデータ処理 |
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| SEA No.6 | 絵皿の元素マッピング | |
| SEA No.5 | 亜鉛鉱石分析例 | |
| SEA No.4 | 未知試料分析例 | |
| SEA No.3 | 素材合金分析例 | |
| SEA No.1 | 鋼種判定分析例 | |
| その他 (膜厚測定) | ||
|---|---|---|
| SFT No.29 | SFT9500における極薄膜Auめっきの測定事例の紹介 | |
| SFT No.28 | SFT9500、SEA1200VXによる無電解Niめっき中のPbの測定 | |
| SFT No.27 | SFT9500による実装基板中の鉛の観察 | |
| SFT No.26 | 薄膜FP法の新機能を使用したSn-Biめっき測定 | |
| SFT No.25 | 有害物質測定用一次ﾌｨﾙﾀの膜厚測定への応用 Ⅰ -極薄Au/Pd/Ni/りん青銅の3層めっき測定- |
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| SFT No.24 | SFT9200によるSn-Agめっき測定Ⅱ | |
| SFT No.23 | 極薄Pd膜測定における定量限界および不確かさの検討 | |
| SFT No.21 | Sn-Biめっき測定の精度 | |
| SFT No.20 | SFT3000SシリーズによるSn-Cuめっき測定Ⅱ | |
| SFT No.19 | SFT3000SシリーズによるSn-Cuめっき測定 | |
| SFT No.18 | SFT3000SシリーズによるSn-Biめっき測定 | |
| SFT No.17 | SFT3000シリーズによるSn-Biめっき測定 | |
| SFT No.16 | プリント基板上のAu測定におけるBr補正方法 | |
| SFT No.15 | スーパーマイクロフォーカスX線管球の特性 | |
| SFT No.14 | Sn-Agめっき測定上の留意点 | |
| SFT No.13 | Au/Pd/Ni/Cu測定 | |
| SFT No.12 | FP方を用いた合金成分比測定 | |
| SFT No.11 | 薄膜FP法の紹介 | |
| SFT No.10 | 極厚Auメッキ測定 Ⅱ | |
| SFT No.7 | スーパーマイクロフォーカス管球の特性 -下地Niメッキ測定- | |
| SFT No.6 | 90Sn-10PB ハンダ測定上の留意点 | |
| SFT No.5 | 極薄Auメッキ測定 | |
| SFT No.4 | 極厚Auメッキ測定 | |
| SFT No.3 | ハンダパンプの測定 | |
| SFT No.2 | 鉛フリーメッキ測定例 -Sn/Bi/Ag/Cu系- | |
| SFT No.1 | Au/Pd/Ni/Cuリードフレーム測定 | |
