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Hitachi

株式会社 日立ハイテク

SEMICON Japan 2017 マジックが起きる

日立ハイテクノロジーズ(日立ハイテク)グループブースご来場のお礼

株式会社日立ハイテクノロジーズ
株式会社日立ハイテクソリューションズ
株式会社日立ハイテクフィールディング
株式会社日立ハイテクファインシステムズ

平素より格別のお引き立てを賜り、厚くお礼申し上げます。
2017年12月13~15日に東京ビックサイトにて開催されました「SEMICON Japan 2017」では、ご多忙の折にもかかわらず弊社ブースにお立ち寄りいただき、誠に有難うございました。皆様のおかげをもちまして、盛況のうちに展示を執り行うことが出来ましたことを心よりお礼申し上げます。

今回のSEMICO Japanは、「プロセスに価値を+Plus/Process+Plus Values」をテーマにIoT・パワーデバイス向けソリューション、最先端微細化ソリューションを展示いたしました。新製品として、ディフェクトレビューSEM「CR6300」ミラー電子式検査措置「Mirelis VM1000」をご紹介いたしました。また、2017年に累計出荷台数5,000台を突破した高分解能FEB速超装置(CD-SEM)特設コーナ、日立製作所のサービス支援ロボット“EMIEW(エミュー)3”にお手伝い頂いた“日立ハイテクステージ”など多彩な展示を行い多くの反響をいただきました。
日立ハイテクは、今回お客様のお役に立てる商品・サービス・情報等のご提案を心がけ、さまざまなお客様に喜んでいただける「価値」ある展示を目指しました。展示品とサービスに関しましてのご意見やご不明な点、ご入用の仕様などございましたらお申し付け下さい。今後も、社員一同さらに皆様のご要望にお応えできるように勤めてまいりますので、今後ともよりいっそうのご指導ご支援を賜りますようお願いいたします。

日立ハイテクグループブース出展ご紹介

主な出展製品・ソリューション

  • 高分解能FEB測長装置 CG6300
  • 高分解能FEB測長装置 CG5000
  • 高分解能FEB測長装置 CS4800
  • 高加速CD-SEM CV5000
  • ディフェクトレビューSEM CR6300
  • ミラー電子検査装置 Mirelis VM1000
  • ウェーハ表面検査装置 LS9300
  • 統計データ応用計測システム RD/DG-A
  • コンダクタエッチング装置 9000シリーズ
  • コンダクタエッチング装置 M-600シリーズ
  • サステーナブルソリューション
  • 解析ソリューション

日立ハイテクブース日立ハイテクブース

日立ハイテクブース #2日立ハイテクブース #2

日立ハイテクラインアップ日立ハイテクラインアップ

測長SEM 5000台出荷達成測長SEM 5000台出荷達成

先端微細ソリューション先端微細ソリューション

IoT・パワーソリューションIoT・パワーソリューション

IoT・パワーソリューションIoT・パワーソリューション

オフライン解析・アフターセールスソリューションオフライン解析・アフターセールスソリューション

日立ハイテクステージ #1日立ハイテクステージ #1

日立ハイテクステージ #2日立ハイテクステージ #2

日立ハイテクステージ #3日立ハイテクステージ #3

日立ハイテクステージ #4日立ハイテクステージ #4

日立ハイテクステージ #5日立ハイテクステージ #5

日立ハイテクステージ #6日立ハイテクステージ #6

日立ハイテクステージ #7日立ハイテクステージ #7

出展者セミナー出展者セミナー

未来College@GAKKO未来College@GAKKO

THE高専@GAKKOTHE高専@GAKKO

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