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日立ハイテク
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  3. 第41回 ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021)

10月25日よりオンラインで開催される「第41回 ナノテスティングシンポジウム」にて 下記講演・展示を行ないます。
奮ってご参加くださいますようお願い申し上げます。

開催日

2021年10月25日(月)- 27日(水)

主催者

ナノテスティング学会

会場案内

オンライン開催

講演

日時 2021年10月26日(火)9:30-10:30
演題 (Tutorial II)荷電粒子線装置による半導体の物理解析
演者 森川晃成
日立ハイテク 解析ソリューション開発部
関連製品 電子顕微鏡・プローブ顕微鏡(半導体分野)
日時 2021年10月26日(火)10:40-11:05
演題 (Electron Optics & Application)欠陥形状評価SEM「CT1000」に適用した傾斜観察技術
演者 服部竜己(a), 家田雅常(a), 岡井信裕(b), 鈴木直正(a)
(a)日立ハイテク 電子線応用システム設計部, (b)日立製作所 研究開発グループ
関連製品 欠陥形状評価SEM CT1000

展示内容

最新製品ラインアップのご紹介

関連製品

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