この度の新型コロナウイルスの影響を鑑み、ご来場の皆さまの健康や安全面などを第一に考えました結果、本セミナーを延期することといたしました。開催時期など詳細が決まりましたら、改めてご案内申し上げます。
皆さまのご理解をいただきますよう、何卒よろしくお願い申し上げます。
今回は、かながわサイエンスパーク 西棟 KSPホールにて、きれいなSEM画像を取得するにはどうすればよいか応用編セミナーを開催いたします。
奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。
2020年2月26日（水）
13:00～17:05（受付開始 12:30～）
かながわサイエンスパーク（KSP） KSPホール
（神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1）
無料
120名
受付は終了いたしました。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
事業戦略2部
担当 鹿野 / 木村
| 時間 | テーマ／内容 |
|---|---|
| 12:30～ | 受付開始 |
| 13:00～14:00 | SEMにおける像障害の原因と対応策 ～チャージアップ、 ドリフト、 コンタミネーション、 試料ダメージ～ |
| 14:00～15:00 | Q&Aタイム（ご質問について ご回答する時間）
|
| 15:00～15:35 | 休憩 Q&Aコーナーを設置します。 |
| 15:35～15:50 | イオンミリング装置のご紹介 |
| 15:50～16:20 | 自動粒子解析のご紹介 |
| 16:20～17:00 | 最新アプリケーションの紹介
|
| 17:00～17:05 | 閉会の挨拶 |
