【WEB開催】TEM基礎セミナー
毎年好評いただいております「日立TEM基礎セミナー」を今年も開催いたします。
今回はオンデマンド形式にて開催いたしますので、視聴期間中はお好きなタイミングで気になる講演を何度でもご覧いただけます。ぜひこの機会をご利用いただきTEMの理解を深め、日ごろの業務にお役立てください。
多くの皆様のご視聴をお待ちしております。
【学べる内容】
- TEMの構造、原理
- TEM観察のポイント
- 試料前処理の基本的な手法
- FIB装置を用いる試料作製手法
【こんな方におすすめ】
- これからTEMを使い始める方
- 日常的にTEMを使用しているが、改めて原理の理解を深めたい方
- 前処理手法のバリエーションを学びたい方
開催概要
| 開催期間 （視聴可能期間） |
2025年12月15日（月）10:00～2026年1月30日（金）17:00 |
|---|---|
| 形式 | WEBセミナー（オンデマンド配信） ※期間中はお客様のご都合に合わせて視聴いただけます。特定の講演だけの視聴や、一時停止や繰り返し視聴も可能です。 ※動画配信サービス「BrightCove」を使ったビデオ視聴となります。お手元の環境にて、動画視聴に制約がある場合はご利用いただけない場合がありますので、あらかじめご了承ください。 |
| 参加費 | 無料 |
お申込み
お申し込みフォームより、お願いいたします。
* ご登録のメールアドレスがフリーアドレスの場合、視聴用URLをご案内できないことがございます。ご所属先のメールアドレスでお申し込みくださいますようお願いいたします。
* 同業の方からのお申し込みはご遠慮くださいますようお願い申し上げます。
プログラム
| 講演内容 |
|---|
| 1.TEMの基礎と観察のポイント（株式会社日立ハイテク） これからTEMを始められる方、初心者の方向けにTEMの構造や原理を簡単にご説明します。また汎用120kV TEMをベースとしたTEMの操作や観察のポイントについてご紹介します。 |
| 2.TEM試料前処理の基礎 〜生物・ソフトマテリアル編〜（株式会社日立ハイテク） TEM観察のための試料前処理手法は多種多様であり、試料の特性や目的により最適な手法を選択する必要があります。今回は、生物・ソフトマテリアル試料の例を中心に透過電子顕微鏡の様々な前処理手法についてその概要とアプリケーションをご紹介します。 |
| 3.FIB装置によるTEM試料作製の基礎（株式会社日立ハイテク） 集束イオンビーム（FIB）装置は加工位置精度が高く、特定の場所での試料作製が可能なことから、近年ではTEM試料作製の主流手法として用いられています。今回は、FIBの基礎原理とTEM試料作製における活用例をご紹介します。 |
* プログラムは予告なく変更になる場合があります。あらかじめご了承ください。
申込締切
| 一次締め切り | 2025年12月10日（火）17:00（12月15日（月）より視聴開始予定） |
|---|---|
| 二次締め切り | 2025年12月22日（月）17:00（12月26日（金）より視聴開始予定） |
| 三次締め切り | 2026年1月13日（火）17:00（1月16日（金）より視聴開始予定） |
視聴のご案内
- 各締切り日の2営業日後に、視聴用URLをメールでご案内します。
-
ご案内予定日を過ぎても視聴用URLが届かない場合は、下記よりお問い合わせください。
（ご登録のメールアドレスが間違っている場合や、ご利用の環境にて配信メールの受信ができない場合、ご案内を確認いただくことができないことがあります）
Q&Aや講演資料に関して
視聴用URLと一緒にアンケートフォームをお送りいたしますので、そちらよりご回答をお願いいたします。
ご回答いただいた方には講演資料と合わせて「FAQ集」の配布を予定しておりますので、是非アンケートにて疑問点やご希望事項をご記載ください。
* アンケートにていただいたご質問は次回以降の参考とさせていただきます。
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株式会社 日立ハイテク
コアテクノロジー＆ソリューション事業統括本部 グローバル営業企画部
担当 本多・山村
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