ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)
  5. FIBデータギャラリー
  6. FIBデータギャラリー「携帯電話部品(フィルムケーブル)の断面加工観察」

FIBデータギャラリー「携帯電話部品(フィルムケーブル)の断面加工観察」

-

図中の倍率は操作画面での表示倍率です。

試料名 携帯電話部品(フィルムケーブル)
観察内容 コネクタ部分に断面を作製しました。封止材との界面を観察しています。

関連リンク

関連情報

お問い合わせ