BRUKER 2次元検出器搭載小角X線散乱装置 NANOSTAR
最高レベルのモジュールデザイン
NANOSTARは、フレキシブルなモジュール式装置で、小角散乱法により1から125nmまでのナノ構造解析、GI-SAXによる表面解析など最高性能を誇る小角散乱装置です。
価格：お問い合わせください
取扱会社：株式会社 日立ハイテクサイエンス
特長
2次元人工多層膜ミラーとピンホール光学系による、強度平行ビームにより、短時間での測定が可能となりました。
また、平行ビームを用いることによりビーム発散を抑えることができ、大きな構造の解析が可能となりました。
NANOSTARは、2次元検出器により等方性・非等方性の試料測定が可能です。
試料-検出器間距離は11.5mm～1,070mmと可変、小角測定から広角測定に対応します。
また、イメージングプレートを用いることで小角・広角同時測定にも対応します。
装置構成
- フレキシブルなモジュール構成
- X線源の選択：空冷型微小焦点X線源IµS、高輝度ローテティングアノードTXS、超高輝度METALJET
- 2次元人工多層膜ミラーMONTEL＋ピンホール（高輝度/高分解能 切り替え）
- ピンホール光学系 または散乱線レスピンホール SCATEXによる2ピンホール光学系
- 大型試料室
- リアルタイムフォトンカウンティング大型2次元PSD VÅNTEC-2000
- 試料-検出器距離可変
* “BRUKER”はBRUKER ANALYTIK 社の日本およびその他の国における登録商標です。
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